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    公开号:WO1988010406A1
    申请号:PCT/EP1988/000541
    申请日:1988-06-21
    公开日:1988-12-29
    发明作者:Hans-Dieter STRÄTER；Daniel Gross；Karl Martin Jauch
    申请人:Battelle-Institut E.V.；
    IPC主号:G01B11-00
    专利说明:
    [0001] Vorrichtung zur Messung von Abständen zwischen einem optischen Element mit grosser chromatischer Aberration und einem Gegenstand.
    [0002] Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtun zur Messung von Abständen zwischen einem optischen Elemen mit großer chromatischer Aberration und einem Gegenstand wobei von einer Lichtquelle ausgehendes weißes Licht durch das optische Element auf den Gegenstand abgebildet wird, der eine Bruchteil des einfallenden Lichtes zurückwirft, der auf eine spektraldispersive Apparatur abgebildet wird.
    [0003] Man hat schon in der US-PS 4,585,349 vorgeschlagen, die Ent¬ fernung eines Punktes der reflektierenden Oberfläche, der au der optischen Achse der Meßvorrichtung liegt, optisch zu messen. Diese Messung basiert auf der Bündelung polychromatischen Lichtes, dessen jeweilige Bündelungsent¬ fernung charakteristisch für die Wellenlängen ist. Durch Auf¬ fangen des Lichtes, das von dem auf der optischen Achse ge¬ legenen Teil der zu messenden Oberfläche reflektiert wird, mißt man ein Intensitätsmaximum für die Wellenlänge, das charakteristisch für die Entfernung dieses Teils der reflek¬ tierenden Oberfläche ist. Um diese Messung durchzuführen, leitet man das reflektierte Licht auf ein Beugungsgitter, das es nach seinen verschiedenen Wellenlängen streut, und man ermittelt mit Hilfe einer Reihe optischer Meßzellen, welches die Wellenlänge mit der größten empfangenen Lichtintensität ist. Der Brennpunktabstand dieser Wellenlänge entspricht der Entfernung zwischen der holographischen Linse zur Fokussierung des polychromatischen Lichtes und der reflektierenden Oberfläche. Diese Lösung ermöglicht zwar die Messung der Ent- fernung eines Punktes, aber nicht die Profilabbildung der Oberfläche, was ihren Anwendungsbereich ganz erheblich be¬ grenzt.
    [0004] Ferner ist ein herkömmliches optisches Tiefenmeßverfahren bekannt, das auf der Wirkung der Parallaxe oder der Triangu¬ lation beruht, wobei ein Lichtbündel auf ein Objekt projeziert wird. Ein Detektor beobachtet diesen Punkt oder diese be¬ leuchtete Linie unter verschiedenen Winkeln. Die Wirkung der Parallaxe ermöglicht die Berechnung der Entfernung der Oberfläche oder ihres Profils. Der Nachteil dieses Verfahrens besteht darin, daß entweder der Lichtwinkel oder der Beob¬ achtungswinkel oder beide schief sein müssen, so daß die Tiefe der Löcher oder Rillen, άϊe beobachtet werden können, begrenzt i st.
    [0005] Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zu schaffen, mit der ohne Bewegung von Sensor oder Prüfling von diesem ein Profil abgenommen werden kann. Diese Aufgabe ist durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruches 1 aufge¬ führten Merkmale gelöst. Hierdurch wird es auf einfache Weise möglich, mittels mindestens zwei Lichtpunkten ohne mechanische Bewegung mehrere Messungen an verschiedenen Orten des Prüf¬ lings gleichzeitig durchzuführen und damit lineare Profil¬ schnitte zu generieren. Ebenfalls ist es möglich, den Prüfling auf einen frei definierten Raster zu vermessen. Die Licht¬ punkte können gemäß Anspruch 4 unterschiedlichen Abstand zur Hauptebene aufweisen, um dadurch einen vergrößerten Meßbereich zu erhalten oder eine höhere Meßgenauigkeit. In vorteilhafter Weise ergeben mehrere Lichtpunkte einen Lichtstreifen.
    [0006] Durch die Anordnung gemäß der Ansprüche 5 und 6 lassen sich dem Prüfling angepaßte Kontroll- oder Meßpunkte definieren. Dadurch wird die Meßzeit minimiert. Durch die Verwendung von ehreren parallelen Lichtstreifen werden sehr viele Meßpunkte gleichzeitig erfaßt und somit eine flächenmäßige Abdeckung des Prüflings erreicht.
    [0007] Gemäß den Ansprüchen 8 und 9 wird eine optimale Übertragung des reflektierten Lichtes an die spektral dispersive Apparatur erreicht und damit auch die Vermessung schwach reflektierender Prüflinge ermöglicht.
    [0008] Dur*e*ι die vorteilhafte Ausgestaltung der Vorrichtung gemäß Anspruch 11 und 12 wird eine kompakte und kostengünstige Bauweise .ermög 1 icht. Die alternative Verwendung von Glaslinse und Zonenplatte ergibt einen über weite Bereiche variierbaren Meßbereich.
    [0009] Im folgenden wird die Erfindung anhand von mehreren Aus¬ führungswegen darstellenden Zeichnungen näher erläutert.
    [0010] Es zeigen:
    [0011] Fig. 1 das Prinzip der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Messung eines linearen Profilschnittes;
    [0012] Fig. 2 ein weiteres Ausfü ungsbeispiel mit Durchl ichtgitter
    [0013] Fig. 3 ein drittes Ausführungsbeispiel mit punktförmigen Lichtquel len.
    [0014] In Abb. 1 wird eine polychromatische, streife'nförmige Licht¬ quelle 1 mit breitem Spektrum gezeigt. Dieses Licht wird auf eine chromatische Linse 2 geleitet, die dazu dient, das Licht in Abhängigkeit von seinen verschiedenen Wellenlängen zu bündeln. Die zu vermessende reflektierende Oberfläche 3 wird in einer Entfernung p von der Linse 2 angebracht. Auf dieser Oberfläche 3 entsteht ein Bild, welches in jedem beleuchteten Punkt jeweils für eine Farbe scharf abgebildet ist, abhängig von der Entfernung der einzelnen Oberflächenpunkte von der Linse 2. Das gestreute Licht wird mit der chromatischen Linse 2 zurückabgebildet und über einen halbdurchlässigen Spiegel 4 auf den Eingangsspalt 7 einer spektraldispersiven Apparatur 5 gelenkt. Diese setzt die Wellenlängen-Information für jeden Punkt in eine Ortsinformation um, so daß sich am Ausgang der Apparatur 5 ein Profilbild der Oberfläche 3 ergibt, welches auf eine als Detektor benutzte Schwarz-Weiß-CCD-Flächen-Kamera 6 fällt.
    [0015] Als chromatisches Element (Linse 2) kann eine Zonenplatte oder eine chromatisch nicht korrigierte Linse oder eine Kombination •mehrerer Linsen zur Verstärkung des chromatischen Effektes benutzt werden.
    [0016] Die Lichtquelle 1 kann durch ausgeleuchtete Spalte und, punkt- förmige Blenden oder geeignete Lichtleiter gebildet werden. Die Form der Lichtquelle kann ohne weiteres den Problem¬ stellungen angepaßt werden. Neben der Verwendung eines Lichtstreifens gemäß Abb. 1 kann es vorteilhaft sein, mehrer« Lichtflächenelemente oder Lichtstreifen 10 oder mehrere Licht¬ punkte 12 in einem gewünschten Meßraster zu verwenden. Bei- speilsweise können zwei Lichtpunkte 12 in geeignetem Abstand oder n Lichtpunkte auf den Ecken eines n-Ecks vorgesehen sein. Wenn das Profil der Oberfläche annähernd bekannt ist, ist es vorteilhaft, die einzelnen Lichtpunkte 12 oder Licht¬ flächenelemente (10) nicht in einer zur Hauptebene des Linsen¬ elementes 10 parallelen Ebene anzuordnen, sondern für einzelne Lichtflächenelemente 10 unterschiedliche Abstände von der Linse 2 vorzusehen. Neben dem in Fig. 1 gezeigten Prinzip der Auskopplung durch einen halbdurchlässigen Spiegel ist es vorteilhaft, ein Durchlichtgitter 8 direkt an der Linse 2 anzubringen, so daß dieses etwa die halbe Linsenfläche abdeckt (Fig. 2). Für beide Verfahren sind als dispersive Elemente Prismen, Gradsicht¬ prismen und Gitter einsetzbar. Alternativ kann auch auf ein dispersives Element (Apparatur 5 oder Durchlichtgitter 8) ver¬ zichtet werden und das rückabgebildete Licht für jeden be¬ leuchteten Punkt direkt auf ein Paar, in der Zeichnung nicht dargestellte, Fotodetektoren abgebildet werden, die für ver¬ schiedene Wellenlängen jeweils eine unterschiedliche Empfind-, lichkeit aufweisen. Die Zentralwellenlänge des reflektierten Lichtes wird dann aus dem Quotient der Signalhöhen der beiden Detektoren abgeleitet. Es wird dann für jeden Punkt auf der Oberfläche ein Detektorpaar benötigt.
    权利要求:
    ClaimsPatentansprüche
    1. Vorrichtung zur Messung von Abständen zwischen einem opti¬ schen Element (2) mit großer chromatischer Aberration und einem Gegenstand (S), wobei von einer Lichtquelle (1) aus¬ gehendes weißes Licht durch das optische Element (2) auf den Gegenstand (S) abgebildet wird, der einen Bruchteil des einfallenden Lichtes zurückwirft, der auf eine spektral- dlspersive Apparatur (5) abgebildet wird, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Lichtquelle (1) aus mindestens zwei Lichtpunkten gebildet ist.
    2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtpunkte in einer in etwa zur Hauptebene des opti¬ schen Elementes (2) parallel verlaufenden Ebene angeordnet sind.
    3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (1) aus mehr als zwei Lichtpunkten gebildet ist.
    4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtpunkte mit unterschiedlichem Abstand zur Haupt¬ ebene des optischen Elementes angeordnet sind.
    5. Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Lichtpunkte einer Lichtquelle (1) beliebig zu¬ einander in einer Ebene angeordnet sind.
    6. Vorrichtung nach Anspruch 5,. dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtpunkte auf einer Geraden, einem Dreieck, einem Rechteck bzw. auf den Eckpunkten eines beliebigen Polygons angeordnet sind.
    7. Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (1) aus einem oder mehreren Lichtstreifen (10) gebildet ist, die durch Blenden erzeugt werden.
    8. Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, daß Breite und Länge der schlitzförmigen Lichtquelle (1) gleich oder annähernd gleich der Schlitzöffnung (7) einer spektraldispersiven Apparatur (5) ist.
    9. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 und 8, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß als Apparatur (5) ein Prisma oder ein Grad¬ sichtprisma oder ein Beugungsgitter eingesetzt wird.
    10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das vom Gegenstand reflektierte Licht über das optische Element (2) und einem zwischen diesem und der Lichtquelle (1) angeordneten halbdurchlässigen Spiegel (4) auf den Ein¬ gangsspalt (7) eines Spektralanalysators mit Geradsicht¬ prisma abgebildet wird. -8-
    11. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein transparentes Beugungsgitter (8) zur winkelförmigen Streuung des vom Profil der besagten Oberfläche (3) re¬ flektierten Lichtes gemäß den f ür die unterschiedlichen Wellenlängen charakteristischen Winkel und eine Empfangs¬ oberfläche für die so erzeugte Abbildung vorgesehen sind, wobei die seitlichen Ablenkungen" für die Entfernungen der verschiedenen Teile des besagten Profils entlang der optischen Achse charakteristisch sind.
    12. Vorrichtung gemäß Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das transparente Beugungsgitter (8) neben einer optischen Fokussierungsvorrichtungen angeordnet ist.
    13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß das transparente Beugungsgitter eine Oberfläche aufweist, die im wesentlichen halb so groß ist wie die Oberfläche des optischen Elementes (2).
    14. Vorrichtung gemäß Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das optische Elemente (2) eine Glaslinse oder eine chro¬ matische Linse vom Typ Zonenplatte enthalten, die konzen¬ trische Beugungsringe aufweist, deren räumliche Frequenz in Richtung auf den Rand der Linse zunimmt.
    15. Vorrichtung gemäß Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die die Abbildung aufnehmende Fläche aus einem flachen CCD- Gitter (6) gebildet wird.
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    优先权:
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