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    公开号:WO1985003589A1
    申请号:PCT/EP1985/000035
    申请日:1985-02-07
    公开日:1985-08-15
    发明作者:Peter Steiner；Rudolf Genähr；David Siegwart
    申请人:Cerberus Ag；
    IPC主号:G01S7-00
    专利说明:
    [0001] Testvorrichtung für Intrusionsmelder
    [0002] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Testen der An¬ sprechbarkeit eines Intrusionmelders auf umgebungsbedingte und melderspezifische Nutz- und Störsignale und zum Lokali¬ sieren- der vom Nominalwert abgewichenen elektrischen Para¬ meter.
    [0003] Bekanntlich werden zur Ueberwachung von Objekten, wie z.B. Fabrik-, Verwaltungs-, Lager- und Ausstellungsgebäuden, Ein¬ kaufszentren, Banken, Arealen, Abstellplätzen, Flughäfen usw., Systeme verwendet, die das unbefugte Eindringen von Personen detektieren und den Einbruchalarm an den für den Schutz dieser Objekte zuständigen Personenkreis, wie z.B. Sicherheitsorgane oder Polizei, weiterleiten. Die Ueberwa- chungssysteme bestehen aus einer Vielzahl von Intrusionsmel- dern, die über das grossflächige Objekt verteilt und an eine Zentrale oder mehrere Unterzentralen angeschlossen sind, wel¬ che nach Ansprechen des Melders den Alarm erzeugen und an den Objektschutz weiterleiten. Die Einbruchmelder sind als Infrarot-, Ultraschall-, Mikrowellen-, Schall-, Erschütte-, rungsmelder sowie als kapazitive Melder ausgebildet. Diesen Meldern ist gemeinsam, dass sie auf umgebungsbedingte oder melderspezifische Signale ansprechen. Einbruchspezifische Signale, wie z.B. Bewegung von Personen, Geräusche von Glas¬ bruch oder von mechanischer Einwirkung auf Wände und Gegen¬ stände, erzeugen im Melder einen elektrischen Signalpegel, der je nach Distanz des Melders vom Ereignis bzw. Geschehen die Alarmschwelle ganz oder nur teilweise erreicht. Beab¬ sichtigt ist, dass mindestens der Melder anspricht, der dem Ereignis bzw. Geschehen am nächsten ist. Ein Alarm wird nur bei Ueberschreiten einer bestimmten Pegelschwelle erzeugt. Die Melder sprechen auch auf Störsignale an. Umgebungsbe¬ dingte StörSignale sind z.B. Geräusche, Luftturbulenzen, Tem¬ peraturschwankungen usw. Melderspezifische Störsignale sind z.B. Sensorrauschen usw. Wenn die Störsignale einen gewissen Pegel erreichen, wird die Gefahr für Fehlalarme anwachsen.
    [0004] Ferner können Fehlalarme auftreten, wenn Teile des Melders durch Alterung, unzulässige Umwelteinflüsse, z.B. Betauung, Vibrationen, Sabotageeinwirkungen usw. von ihren Nomi¬ nalwerten abweichen. Diese Fehlalarme können eine direkte Folge dieser Abweichungen sein. Ferner können umgebungsbe¬ dingte Störsignale, die normalerweise unterdrückt werden, bei einer Parameterabweichung in gewissen Baugruppen Fehl¬ alarme auslösen.
    [0005] In der US-Patentschrift 3 383 678 (J.L. Palmer) ist ein Bewe¬ gungsmelder beschrieben, der nach dem Doppler-Prinzip arbei¬ tet. In dieser Patentschrift ist auch eine Funktionskontrolle der elektrischen Teile des Melders beschrieben. Diese Funk¬ tionskontrolle wird in der Weise durchgeführt, dass ein Teil der Sendeenergie vor der Antenne ausgekoppelt und über einen "Motion-Simulator" am Ausgang der Empfangsantenne eingespeist wird. Die Aufgabe des Motion-Simulators ist, die Bewegung eines Einbrechers zu simulieren und damit die Funktion des elektrischen Teiles des Melders bei einem Einbruchsignal zu prüfen. Bei dieser Prüfung der Funktionstüchtigkeit des Mel¬ ders kann jedoch nicht festgestellt werden, inwieweit die einzelnen Teile des Melders von ihren Nominalwerten abgewi- chen sind. Durch diesen Test ist nur das Verhalten des Mel¬ ders auf Bewegungseinflüsse festgestellt worden. Das Ver¬ halten der Melder bei Störungen ist hiermit noch nicht ge prüft. Letzteres bedeutet eine erhöhte Melderbereitschaft zu Fehlalarmen. Als weiterer Nachteil ist anzumerken, dass die beschriebene Prüfung keine Eingrenzung des Fehlers - 3 -
    [0006] innerhalb der elektrischen Schaltung zulässt. Die beschrie¬ bene Prüfung ist eine reine Funktionsprüfung, die nur wäh¬ rend des Betriebs des Melders durchgeführt werden kann.
    [0007] Die Erfindung hat die Aufgabe, die erwähnten Nachteile der Prüfung des bekannten Melders zu beseitigen und darüber hinaus eine Einstellung der veränderlichen Parameter zu über¬ prüfen, z.B. Empfindlichkeit, Integrationszeit, Bandpass, Schwellwerte und andere Werte, die vor der Inbetriebnahme des Melders an seinem Ort und unter Berücksichtigung der zu überwachenden Umgebung einzustellen sind. Gleichzeitig soll die Erfindung es ermöglichen, Parameterabweichungen schon zu erkennen bevor diese zu einem zwangsläufigen Fehlalarm oder zu einer Nichtdetektion eines Einbruches führen. Auf diese Weise sollen Fehlfunktionen des Melders mittels einer Frühdiagnose vermieden werden. Ausserdem soll die Frühdiagno¬ se den Fehlerort innerhalb der elektronischen Schaltung des Melders angeben.
    [0008] Diese Aufgabe der Erfindung wird durch die Merkmale des Pa¬ tentanspruchs 1 gelöst.
    [0009] Die Erfindung bezieht sich auf aktive Melder, wie Ultra¬ schall-, Mikrowellen- und kapazitive Melder und auf passive Melder, wie Infrarot-, Schall- und Erschütterungsmelder.
    [0010] Ausführungsbeispiele der Erfindung werden anhand der Zeich¬ nungen näher erläutert. Es zeigen:
    [0011] Fig. 1) Das erfindungsgemässe Prinzip der Ueberwachung der elektrischen Parameter bei einem Einbruch¬ melder;
    [0012] Fig. 2) in graphischer. Darstellung den zeitlichen Ablauf der Ueberwachungtests während der Betriebsdauer des Melders;
    [0013] Fig. 3) in 'graphischer Form das Frequenz-Spektrum, das durch eine besonders einfache Testimpulsform erzeugt wird;
    [0014] Fig. 4) ein Zeitdiagramm einer Testfunktion;
    [0015] Fig. 5) das zur Testfunktion der Fig. 4 gehörende Spek¬ trum für den Fall, dass tf >> tp;
    [0016] Fig. 6) das zur Testfunktion der Fig. 4 gehörende Spek¬ trum für den Fall, dass tf nur einige wenige Perioden von tp umfasst;
    [0017] Fig. 7) zeigt einen Melder, bei dem die Tests bei der
    [0018] Installation und während der Betriebszeit durch¬ geführt werden. Die Fig. 1 zeigt einen Einbruchmelder in schematischer Dar¬ stellung. Ein Sensor 1 empfängt aus dem zu überwachenden Raum 2 oder vom zu überwachenden Objekt bzw. vom Einbrecher 3 Signale, und wandelt diese in der Auswerteschaltung 5 in elektrische Signale um. Solche elektronischen Auswerteschal¬ tungen sind allgemein bekannt. Daher wird die Auswerte¬ schaltung 5 im Zusammenhang mit der Fig. 1 nicht näher be¬ schrieben. Eine solche Auswerteschaltung erzeugt an ihrem Ausgang ein Alarmsignal 7, wenn die vom Empfänger 1 empfange¬ nen Signale auf Einbruchsaktivitäten hinweisen. Anhand der Fig. 1 soll nun dargelegt werden, dass die Erfindung, näm¬ lich die Ueberwachung von elektrischen Parametern an ver¬ schiedenen Orten der Auswerteschaltüng 5, sowohl für aktive als auch passive Melder verwendet werden kann. Wie bereits erwähnt werden als aktive Intrusionsmelder Ultraschall-, Mikrowellen-, und kapazitive Melder bezeichnet. Diese Melder haben sowohl einen Sender als auch Empfänger. Die passiven Intrusionsmelder, die nur einen Empfänger besitzen, sind als Infrarot-, Schall- und Erschütterungsmelder ausgebildet.
    [0019] Die Fig. 1 zeigt einen gestrichelt gezeichneten Teil, der nur für einen aktiven Intrusionsmelder notwendig ist, der im folgenden zusammen mit der Erfindung näher beschrieben wird. Die Logik-Steuerschaltung 8 steuert über die Leitungen die Schalter 91, 92, 93 in die gezeichneten Stellungen. Der Generator 94 kann nun seine Sendefrequenz f über die ge¬ schlossenen Schalter 93, 91 auf den Sender 4 geben, der diese Sendefrequenz in den zu überwachenden Raum 2 abstrahlt. Die durch die überwachenden Objekte 3 reflektierten Strahlen wer¬ den vom Empfänger 1 empfangen und in der nachfolgenden Aus¬ werteschalt ng 5 verarbeitet. Wenn nun der Melder bei seiner Installation an die für den Raum 2 charakteristischen Eigentümlichkeiten angepasst wer¬ den soll, so geschieht dies durch Einstellen der entsprechen¬ den Parameter in der Auswerteschaltung 5. Das wird nun näher erklärt. Ueber Leitung 81 steuert die Logikschaltung 8 den Schalter 91, so dass der Sender 4 vom Generator 94 ge¬ trennt ist. Die Logikschaltung 8 steuert den Schalter 92 über Leitung 82 in der Weise, dass der Generator 90 über die Mischstufe 95 am Multiplex-Schalter 96 angeschlossen ist. In der Mischstufe 95 wird die Testfrequenz f des Testgenera¬ tors 90 mit der Sendefrequenz f des Generators 94 modu¬ liert. Diese modulierten Testsignale werden nun an den ver¬ schiedenen Orten der Auswerteschaltung 5 nach einem bestimm¬ ten Programm, welches in der Logik-Steuerschaltung 8 gespei¬ chert ist, eingespeist. Die Logik-Steuerschaltung 8 steuert über die Leitung 84 die entsprechenden Schalter so, dass sie geschlossen sind. Von den Einspeisestellen sind in der Fig. 1 nur die beiden Einspeisungen 51, 52 gezeigt. Zum Bei¬ spiel soll mit dem Stromkreis 53 die Empfindlichkeit des Mel¬ ders für den betreffenden Raum 2 optimal eingestellt werden. Zu diesem Zweck folgt zuerst die Einspeisung der modulier¬ ten Testsignale, wie sie z.B. in den Fig. 3, 5 und 6 gezeigt sind, zuerst an der Stelle 51. In diesem Zusammenhang sei noch darauf hingewiesen, dass die Logik-Steuerschaltung 8 über Leitung 85 die Schalter 97 so gesteuert hat, dass am Ende der Auswerteschaltung 5 die Signale empfangen werden können und über die Leitungen 98 in die Logik-Steuer-Schal¬ tung 8 gelangen. Dort werden sie mit den gespeicherten Wel¬ lenzügen der wichtigen Ergebnis-Signalen verglichen. Wenn keine Uebereinstimmung vorliegt, so wird dies in der Schal¬ tung 8 angezeigt. Der Stromkreis 53 wird nun so- lange durch das Service-Personal eingestellt, bis die Schaltung 8 eine optimale Uebereinstimmung zwischen den Ergebnis-Signalen und den gespeicherten SOLL-Wellenzügen vorhanden zeigt. Die Ein¬ speisung der Ergebnis-Signale an der Stelle 52 der Auswerte¬ schaltung 5 ist notwendig, um im Betrieb die nach dem Strom¬ kreis 53 liegenden Teile der Auswerteschaltung unabhängig vom Wert des einstellbaren Parameters im Stromkreis 53 zu prüfen.
    [0020] Im folgenden wird nun angenommen, dass der Melder der Fig. 1 ein passiver Melder ist, der bekanntlich keinen Sender 4 sondern nur den Empfänger 1 enthält. Die gestrichelt gezeich¬ neten Steuerleitungen 81, 83 sowie die Bauteile 4, 91, 93, 94, 95 sind nicht vorhanden. Wenn nun bei der Installation des passiven Melders der Test durchgeführt werden soll, so steuert die Logik-Steuerschaltung 8 über Leitung 82 den Schalter 92 so, dass der Test-Generator 90 seine Testsignale über den geschlossenen Schalter 92 und die strichpunktierte Leitung 99 auf den Multiplex-Schalter 96 und an die Ein¬ speisestelle 51 gibt. Die optimale Einstellung der Empfind¬ lichkeit des Melders an den zu überwachenden Raum 2 mit seinen Eigentümlichkeiten folgt nun in gleicher Weise wie es bereits im Zusammenhang mit dem aktiven Melder besprochen worden ist. Der Vollständigkeit halber wird jedoch darauf hingewiesen, dass in diesem Fall die Testsignale nicht mit der Sendefrequenz f moduliert werden, da der passive Melder bekanntlich keinen Sender hat. Für gewisse Schaltungsteile, insbesondere bandpassartige Anordnungen, kann es jedoch zweckmässig sein, trotzdem eine Modulation durchzuführen, wobei an Stelle der Sendefrequenz' f die entsprechende Mit- tenfrequenz tritt. Der Melder der Fig. 1 wird auch während seiner Betriebszeit in bestimmten zeitlichen Intervallen auf die Richtigkeit der elektrischen Parameter seiner Auswerteschaltung 5 überprüft bzw. getestet. Die elektrischen Parameter der Auswerteschal¬ tung 5 sind z.B. Verstärkungsfaktor, Mittenfrequenz, Zeitkon¬ stante, Bandpassbreite, Schwellwerte, Empfindlichkeit usw. Die Fig. 2 zeigt den zeitlichen Ablauf der Tests bzw. Prüfun¬ gen während dieser Betriebsdauer. Es sei nun angenommen, dass in einem Zeitintervall t. = 10 s bis 100 s periodisch die Testzeit t. von ungefähr 100 bis 1*000 ms vorgesehen ist. Die eigentlichen Tests können sequentiell ablaufen, dann wer¬ den innerhalb dieser Testzeit t 1. während den Zeiten tf.. von ca. 40 bis 400 ms die Testsignale des Testgenerators 90 an die entsprechenden Stellen der Auswerteschaltung 5 einge¬ speist. Ist nur ein Testpunkt vorgesehen oder falls die Ein¬ speisung an mehreren Testpunkten parallel erfolgt, so liegt nur eine Zeit t_ vor, wie es die linke Seite der Fig. 2 zeigt. Diese Zeit t ist so gewählt, dass Störungen, die durch irgendwelche Schaltzustände elektronischer Bauteile entstehen, die Testsignale nicht beeinflussen können. Während der sogenannten Testfreigabezeit t , die gegenüber der Zeit tf versetzt ist, findet die Erfassung und Auswertung der Er¬ gebnis-Signale über die Leitungen 98 und Multiplex-Schalter 97 in der Logikschaltung 8 statt. Die in der Fig. 2 angege¬ benen Zeiten gelten nur für das beschriebene Au-sführungsbei- spiel bei einem aktiven bzw. passiven Intrusionsmelder. Selbstverständlich können diese Zeiten verlängert bzw. ver¬ kürzt werden. Es sei noch darauf hingewiesen, dass die Logik- Schaltung 8 der Fig. 1, die in der Fig. 2 angegebenen Zeiten steuert.
    [0021] Die Fig. 3 zeigt ein Frequenzspektrum, das durch die beson¬ ders einfache Testimpulsform eines einzelnen Rechteckimpulses durch den Testgenerator 90 erzeugt wird. Eine allfällige Modulation mit der Sendefrequenz f bewirkt lediglich eine Verschiebung des Nullpunktes (0) auf die Sendefrequenz f .
    [0022] Dies ist in der Fig. 3 symbolisch angedeutet.
    [0023] In der Fig. 4 ist eine Reihe von Impulsen auf der Zeit- Abszisse t aufgetragen. Der Testgenerator 90 der Fig. 1 er¬ zeugt diese Impulse, welche in der Zeit t_ von z.B. 40 ms durch die Schalter 92 und 96 an die gewünschten Punkte der Auswerteschaltung 5 angelegt werden. In der Fig. 4 hat jeder Impuls eine zeitliche Dauer t .
    [0024] Die Fig. 5 und 6 zeigen Frequenzspektren, welche aus der Im¬ pulsreihe der Fig. 4 dann entstehen, wenn das zeitliche Ver¬ hältnis der Pulsbreite tp zur Zeit t£f der gesamten Im- pulsreihe verändert wird. Die verschiedenen Frequenzspektren werden für bestimmte Tests bei speziellen elektronischen Bau¬ teilen der Auswerteschaltung 5 verwendet. Dies wird später im Zusammenhang mit der Fig. 7 näher beschrieben. Die Fig. 5 zeigt ein FrequenzSpektrum in dem Fall, dass tf > t ist. Der Nullpunkt (0) dieses auf der Frequenz-Abszisse f darge¬ stellten Spektrums wird auf die Sendefrequenz f verschoben, wenn es sich um den Test eines aktiven Melders (mit Sender 4) handelt. Die Form des in der Fig. 5 gezeigten Spektrums wird für eine punktselektive Messung von elektrischen Parametern in der Auswerteschaltung 5 verwendet.
    [0025] Das in der Fig. 6 gezeigte FrequenzSpektrum, welches auf der Frequenz-Abszisse f aufgetragen ist, ergibt sich, wenn der Impulszug der Fig. 4, welcher bekanntlich durch den Test¬ generator 90 erzeugt wird, so geändert wird, dass die Zeit tf nur einige wenige Perioden der Impulszeit t umfasst. Da
    [0026] P diese Funktion sowohl für einen passiven Melder (ohne Sender und Sendefrequenz), als auch für einen aktiven Melder (mit Sender 4 und Sendefrequenz f ) gilt, sind diese beiden Werte an der Abszisse f eingetragen. Die in der Fig. 6 gezeigte Form des Frequenzspektrums eignet sich für die integrale Prü¬ fung von selektiven Stromkreisen der Auswerteschaltung 5. Hierbei ist besonders an Bandpassfilter gedacht.
    [0027] Zusammenfassend kann gesagt werden, dass der Testgenerator 90 der Fig. 1 durch Veränderungen reiner Pulszüge Frequenz¬ spektren aller möglichen Art erzeugen kann, die für spezielle Prüfungszwecke bestimmter Stromkreise in der Auswerteschal¬ tung 5 nützlich sind.
    [0028] Die Fig. 7 zeigt ein Ausführungsbeispiel für einen Ultra¬ schallmelder. Die Auswerteschaltung 5 besteht aus einem Ver¬ stärker 54, einem Potentiometer 53, einem Modulator, Band¬ pässen 56 und Integratoren 57, Komparatoren 58 sowie Spei¬ cher 59 mit anschliessendem UND-Gatter 60. Das UND-Gatter 60 erzeugt dann Alarm, wenn bei beiden Zweigen der Elemente 56, 57, 58, 59 Ausgangssignale zur gleichen Zeit vorhanden sind. Da die AuswerteSchaltung 5 nicht Gegenstand der Erfin¬ dung ist, wird sie auch nicht näher beschrieben.
    [0029] Der aktive Ultraschall-Melder der Fig. 7 hat auch einen Sen¬ der 4, der mit der Sendefrequenz f vom Generator 94 über die geschlossenen Schalter 93, 91 versorgt wird. Die Sende¬ frequenz f wird über Leitung 61 auf den Modulator 55 gege- * ben, in welchem diese Sendefrequenz die Empfangsfrequenz vom Empfänger 1 mit der Sendefrequenz demoduliert wird. Während des Betriebs sind die Multiplex-Schalter 96, ,97 sowie der Schalter 92 im geöffneten Zustand, wie die Fig. 7 zeigt. Die Logik-Steuerschaltung besteht im Ausführungsbeispiel der Fig. 7 aus einem Mikroprozessor 86, der über Leitungen 81, 82, - li ¬
    [0030] es, 84, 85 die Schalter 91, 92, 93, 96, 97 steuert. Ferner empfängt der Mikroprozessor 86 die Ergebnis-Signale über einen Analog-/Digital-Umwandler 87 und wertet diese Ergebnis- Signale aus. Zum Beispiel stellt er einen Vergleich zwischen der Form dieser Ergebnis-Signale und den gewünschten Wellen¬ zügen für die verschiedenen Prüf- bzw. Testpunkte der Aus¬ werteschaltung fest.
    [0031] Im folgenden wird zuerst der sogenannte Installationstest und dann der periodisch wiederkehrende Bet.riebstest erläutert.
    [0032] Wenn der Melder an den Ort installiert wird, dessen Raum 2 er zu überwachen hat, so muss seine Ansprechbarkeit für den zu überwachenden Raum optimal eingestellt werden können. Dies erfolgt dadurch, dass der Mikroprozessor 86 über Leitung 81 den Schalter 91 in die nicht gezeichnete Stellung bringt, so dass der Modulator 95 mit dem Eingang des Multiplex-Schal- ters 96 verbunden ist. Ferner wird über Steuerleitung 82 der Schalter 92 in die nicht gezeichnete Stellung gebracht, so dass der Test-Generator 90 seine Testfunktion der Fig. 4 auf den Modulator 95 bringen kann. Wenn nun das Programm im Mikroprozessor 86 vorschreibt, dass die Testsignale des Gene¬ rators 90 mit der Sendefrequenz f des Generators 94 modu¬ liert werden soll, so bleibt der Schaltung 93 in der gezeich¬ neten, geschlossenen Position. Im Modulator 95 findet die Modulation statt. Wenn das Programm im Mikroprozessor 86 vor¬ schreibt, dass keine Modulation gemacht werden soll, so wird über Steuerleitung 83 der Schalter 93 geöffnet. In diesem Fall gelangen die reinen Testsignale des Generators 90 über den Modulator 95 auf den Multiplex-Schalter 96. Der Mikropro¬ zessor 86 stellt entsprechend seinem Programm über Steuer¬ leitung 84 die einzelnen Schaltelemente des Multiplex-Schal- ters 96 ein.- Die Ergebnis-Signale werden z.B. hinter den Integratoren 57 entnommen und über die Leitungen 98 auf den Multiplex-Schalter 97 gegeben. Da diese Signale analog sind, werden sie im nachfolgenden Analog/Digital-Umwandler 87 umge¬ wandelt und als Digitalwerte in den Mikroprozessor 86 gege¬ ben, der die Ergebnis-Signale mit den SOLL-Wellenzügen ver¬ gleicht. Wie bereits im Zusammenhang mit den Fig. 3, 4, 5, 6 gesagt, können für die Prüfung der verschiedensten Bau¬ teile, die günstigsten FrequenzSpektren als Testsignale be¬ nutzt werden.
    权利要求:
    ClaimsP A T E N T A N S P R U E C H E
    1. Vorrichtung zum Testen der Ansprechbarkeit eines Intru- sionsmelders auf umgebungsbedingte und melderspezifische Nutz- und Störsignale und zum Lokalisieren der vom Nomi¬ nalwert abgewichenen elektrischen Parameter, g e- k e n n z e i c h n e t d u r c h:
    Einen Generator (90) zum Erzeugen von Testsignalen; eine erste Schalteranordnung (96) zum wahlweisen An¬ legen der Testsignale an die gewünschten Einspeise¬ punkte (51), (52) der elektronischen Auswerteschaltung (5) des Melders;
    eine zweite Schalteranordnung (97) zum wahlweisen Aus¬ koppeln der durch die Testsignale erzeugten Ergebnis¬ signale;
    - eine logische Steuereinheit (8), die die Ergebnissi¬ gnale mit den richtigen Signalen vergleicht und bei Auftreten eines Fehlers des Ergebnissignales den Feh¬ lerort in einer Anzeigeeinrichtung (102) anzeigt.
    2. Vorrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n¬ z e i c h n e t, dass mindestens zwei Testsignale vor und nach einem Schaltungsteil (53) mit veränderbaren Parametern über die erste Schalteranordnung (96) einge¬ speist wird und die Logikschaltung (8) an mindestens zwei Ergebnissignalen die für den Betrieb des Melders massge- blichen Parametereinstellung bestimmt.
    3. Vorrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n¬ z e i c h n e t, dass ein aktiver Intrusionsmelder einen Generator (94) zur Erzeugung der für den Sender (4) des Melders vorgesehenen Sendefrequenz (f ) enthält, und diese Sendefrequenz die Testsignale des Generators (90) moduliert, wobei die modulierten Testsignale über die erste Schalteranordnung (96) in die Einspeisepunkte (51), (52) der Auswerteschaltung (5) gelangen und als Ergebnis¬ signale über die zweite Schalteranordnung (97) in die logische Steuereinheit (8) gegeben werden.
    4. Vorrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n¬ z e i c h n e t, dass ein passiver Intrusionsmelder einen Generator (90) zur Erzeugung der Testsignale ent¬ hält, welche über die erste Schalteranordnung (96) in die Einspeisepunkte (51), (52) der Auswerteschaltung (5) gelangen und als Ergebnissignale über die zweite Schal¬ teranordnung (97) in die logische Steuereinheit (8) gege¬ ben werden.
    5. Vorrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e¬ k e n n z e i c h n e t, dass ein passiver Intrusions¬ melder einen Generator zur Erzeugung einer Mittenfrequenz f enthält und diese Frequenz die Testsignale des Genera¬ tors (90) moduliert, wobei die modulierten Testsignale über die erste Schalteranordnung (96) in die Einspeise¬ punkte (51), (52) der Auswerteschaltung (5) gelangen und als Ergebnissignale über die zweite Schalteranordnung (97) in die logische Steuereinheit (8) gegeben werden.
    6. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 3, d a¬ d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, dass der Gene¬ rator (90) seine Testsignale in Form von Dreieck-, Recht¬ eck-, Sägezahn-, Trapez-Pulsen oder als Sinusschwingungen erzeugt.
    7. Vorrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n¬ z e i c h n e t, dass die logische Steuereinheit (8) nach einer bestimmten Betriebszeit (t ) des Melders peri¬ odisch eine Testzeit (t.) von bestimmter Dauer durch¬ führt, wobei der Generator (90) nur während eines Teiles (tf) der Testzeit (t.) seine Testsignale über die erste Schalteranordnung (96) an die gewählten Einspeise-Punkte (51), (52) der Auswerteschaltung (5) gibt, und die lo¬ gische Steuereinheit (8) nur zu einer Zeit (tm) die Er- gebnissignale .von ausgewählten Entkoppelpunkten der Aus¬ werteschaltung (5) über die zweite Schalteranordnung (97) empfängt.
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    法律状态:
    1985-08-15| AK| Designated states|Designated state(s): BR JP US |
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
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