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    • 专利摘要:
    一種近接式電流感測裝置，包括本體、第一調整元件、第二調整元件、第一感測單元、第二感測單元、第三感測單元與處理單元。本體具有開孔，此開孔適於導線穿過本體。第一與第二調整元件分別配置於本體的第一側邊與第二側邊，用以調整導線的第一位置與第二位置。第一、第二與第三感測單元分別配置於本體上且鄰近於導線的第一側邊、第二側邊與第三側邊，用以感測導線的第一磁通量、第二磁通量與第三磁通量。處理單元依據第一與第二磁通量，旋轉調整元件確保第三感測單元位於導線中心點上方，以及依據第三磁通量估算安裝位置並計算出電流量。
    公开号:TW201319605A
    申请号:TW100140020
    申请日:2011-11-02
    公开日:2013-05-16
    发明作者:Shih-Hsien Cheng；Ming-Jhe Du；Lien-Yi Cho
    申请人:Ind Tech Res Inst；
    IPC主号:G01R15-00
    专利说明:
    近接式電流感測裝置與方法
    一種電流感測器，特別有關於一種近接式電流感測裝置。
    近年來，產業自動化的迅速發展，對於高可靠度、高性能之控制儀器的需求日益增加。各式感測器在自動化的監控功能上，佔有絕對重要的角色，其中電流感測器在儀錶偵測、控制等工業或家庭自動化產業上都是不可或缺的一環。
    目前電流感測器可依據原理分為四類，例如1.歐姆定律--電阻分流式、2.法拉第感應定律--CT變流器、3.磁場感測--霍耳元件及4.法拉第光電效應--光纖電流感測器。前兩者在使用上或為直接量測、或為體積大而笨重，故有不便之處。霍耳元件因形小體輕、且為近接量測之特點，格外受到矚目。而光纖電流感測器由於維修困難及構造複雜，因而使得應用範圍較小。
    依安培原理，導體在電流通過時，會在周圍形成磁場，其大小正比於導體之電流而反比於相隔之距離。因此藉由磁場大小之偵測，可獲知導體內所通過電流之大小。然而，目前近接式電流感測器大都有因為安裝位置而造成量測誤差過大的問題，而造成使用的不便利性，因此近接式電流感測器仍有改善的空間。
    鑒於以上的問題，本揭露在於提供一種近接式電流感測裝置與方法，藉以準確校正導線的位置，以降低電流量測誤差量。
    本揭露之一種近接式電流感測裝置，包括本體、第一調整元件、第二調整元件、第一感測單元、第二感測單元、第三感測單元與處理單元。本體具有開孔，開孔適於導線穿過本體。第一調整元件配置於本體的第一側邊，用以調整導線的第一位置。第二調整元件配置於本體的第二側邊，用以調整導線的第二位置。第一感測單元配置於本體上且鄰近於導線的第一側邊，用以感測導線的第一磁通量。第二感測單元配置於本體上且鄰近於導線的第二側邊，用以感測導線的第二磁通量。第三感測單元配置於本體上且鄰近於導線的第三側邊，用以感測導線的第三磁通量。處理單元耦接第一感測單元、第二感測單元與第三感測單元，用以依據第一磁通量與第二磁通量，以判斷出導線的位置，以及依據第三磁通量計算出電流量。
    本揭露之一種近接式電流感測裝置，包括下列步驟。利用第一感測單元感測導線的第一磁通量，其中第一感測單元鄰近於導線的第一側邊。利用第二感測單元感測導線的第二磁通量，其中第二感測單元鄰近於導線的第二側邊。利用第三感測單元感測導線的第三磁通量，其中第三感測單元鄰近於導線的第三側邊。依據第一磁通量與第二磁通量，以計算出導線的位置。依據第三磁通量計算出電流量。
    本揭露之一種近接式電流感測裝置與方法，其藉由感測單元(第一感測單元與第二感測單元)感測導線的磁通量，以確定導線的位置是否位於電流感測裝置本體內置中的位置。若否，則利用調整元件(第一調整元件與第二調整元件)調整導線的位置，使導線位於裝置本體內置中的位置，再藉由第三感測單元感測導線的磁通量，以計算出流經導線的電流量。如此一來，可有效降低電流量測的誤差。
    有關本揭露的特徵與實作，茲配合圖式作實施例詳細說明如下。
    請參考「第1圖」所示，其係為本揭露之近接式電流感測裝置的方塊圖。近接式電流感測裝置100包括本體110、調整元件120、130、感測單元140、150、160、處理單元170與顯示單元180。本體110具有開孔111。此開孔111適於導線112穿過本體110。也就是說，使用者可以將導線112透過開孔111穿過本體110，以便量測導線112的電流量。在本實施例中，導線112為雙心電源線。
    調整元件120配置於本體110的第一側邊，用以調整導線112的第一位置。調整元件130配置於本體110的第二側邊，用以調整導線112的第二位置。在本實施例中，調整元件120可包括頂桿121與旋鈕122。旋鈕122連接於頂桿121，且旋鈕122旋轉以帶動頂桿121產生往復運動，以使頂桿121穿入或退出本體110。
    另外，調整元件130包括頂桿131與旋鈕132。旋鈕132連接於頂桿131，且旋鈕132旋轉以帶動頂桿131產生往復運動，以使頂桿131穿入或退出本體110。如此一來，使用者可藉由旋轉旋鈕122或132，使得導線112以水平的方式向左移動或向右移動，進而將導線112調整至位於本體110內置中的位置，以進行導線112之電流量的量測。
    感測單元140配置於本體110上且鄰近於導線112的第一側邊，用以感測導線112的第一磁通量。若導線112較接近感測單元140，則感測單元140所感測到的第一磁通量較大。反之，若導線112較遠離感測單元140，則感測單元140所感測到的第一磁通量較小。
    感測單元150配置於本體110上且鄰近於導線112的第二側邊，用以感測導線112的第二磁通量。若導線112較接近測元件150，則感測單元150所感測到的第二磁通量較大。反之，若導線112較遠離感測單元150，則感測單元150所感測到的第二磁通量較小。
    感測單元160配置於本體110上且鄰近於導線112的第三側邊，用以感測導線112的第三磁通量。處理單元170耦接感測單元140、150與160，用以依據第一磁通量與第二磁通量，以判斷出導線112的位置，以及依據第三磁通量計算出流經導線112的電流量。另外，處理單元170更可依據第三磁通量估算出導線112的安裝位置，即導線112與感測單元160之間的距離。顯示單元180耦接處理單元170，用以顯示導線112的位置以及流經導線112的電流量。
    如此，使用者可藉由顯示單元180所顯示之導線112的位置，以得知導線112之位置的偏移狀況，進而觀察感測器160是否確實位於導線112的中心上方位置，即導線112是否位於本體110內置中的位置。接著，利用調整單元120與130調整導線112的位置，以確保感測器160位於導線112的中心上方位置，進而減少電流量測時的誤差。
    請參考「第2圖」所示，其係為本揭露之感測單元140、150與160的配置關係示意圖。其中，感測單元140與150分別可以是感測線圈。而感測單元160還包括有感測線圈210與220。感測線圈210配置於本體110上且鄰近於導線112的第三側邊。感測線圈220配置於本體110上且以預設距離d鄰近於感測線圈210。在本實施例中，預設距離d為已知的固定距離。
    根據安培定律，流經一長直導線的電流，在其鄰近空間會產生環形磁場。藉由本實施例的感測單元160感測導線112上的電流，可根據法拉第感應定律而獲得感測電壓，其中
    w c 為感應線圈210、220的線寬，w d 為感應線圈210、220之繞線的線寬，w s 為感應線圈210、220之繞線之間的線距，μ 0為導磁率，I為導線112上的電流，g為感應線圈210與導線112之間的距離，N為感應線圈210、220之繞線的線圈數。並且，藉由本實施例的感應線圈210、220感測導線112上的電流，可以獲得的感應電壓如下：
    其中，參數a n 、b n 、c n 、N、d等皆為已知參數，而I與g為未知數，V1為感應線圈210所感測的電壓，V2為感應線圈220所感測的電壓。因此，可藉由上述兩方程式獲得I和g的參數，使得本實施例之近接式電流感測裝置100可準確的感測出導線112的電流量，以及導線112的安裝位置(即導線112與感測單元160之間的距離)。
    請參考「第3圖」所示，其係為本揭露之近接式電流感測裝置的電路方塊圖。近接式電流感測裝置100包括感測單元140、150、160、處理單元170與顯示單元180，而其耦接關係請參考「第3圖」，故在此不再贅述。其中，處理單元170包括比較單元310與計算單元320。比較單元310耦接感測單元140與150，用以接收並比較第一磁通量與第二磁通量，以產生第一比較結果。計算單元320耦接比較單元310與感測單元160，用以依據第一比較結果，判斷出導線112的位置，以及依據第三磁通量，計算出流經導線112的電流量。
    舉例來說，當第一磁通量大於第二磁通量時，比較單元310輸出的第一比較結果例如為正，則計算單元320會判斷出導線112的位置較接近感測單元140，並於顯示單元180上顯示。當第一磁通量小於第二磁通量時，比較單元310輸出的第一比較結果例如為負，則計算單元320會判斷出導線112的位置較接近感測單元150，並於顯示單元180上顯示。當第一磁通量等於第二磁通量時，比較單元310輸出的第一比較結果例如為零，則計算單元320會計算出導線112的位置位於感測單元140與150之間，即位於本體110內置中的位置，並於顯示單元180上顯示。
    以下將進一步說明近接式電流感測裝置100的操作。首先，使用者可將導線112經由開孔111穿過本體110。接著，透過感應元件140與150感測導線112的第一磁通量與第二磁通量，而處理單元170據此判斷導線112的位置，並於顯示單元180上顯示。若導線112的位置較接近於感測單元140，則使用者可藉由調整單元120將導線112向左調整，使導線112遠離感測單元140而接近感測單元150。若導線112的位置較接近感測單元150，則使用者可藉由調整單元130將導線112向右調整，使導線112遠離感測單元150而接近感測單元140。藉由上述的調整，使得導線112的位置位於本體110內置中的位置。
    此時，藉由感測單元160感測導線112的第三磁通量，而處理單元170依據前述法拉第定律來計算第三磁通量，以獲得流經導線112上的電流。如此一來，可準確地量測出導線112上的電流，進而減少電流量測的誤差。
    上述說明為本揭露的一種實施範例，以下將舉另一例來說明。請參考「第4圖」所示，其係為本揭露之近接式電流感測裝置N方塊圖。近接式電流感測裝置400包括本體410、調整元件420、430、440、450、感測單元462、464、466、468、處理單元470與顯示單元480。
    本體410具有開孔411。此開孔411適於導線412穿過本體410。也就是說，使用者可以將導線412透過開孔411穿過本體410，以便量測導線412的電流量。在本實施例中，導線412為雙心電源線。
    調整元件420配置於本體410的第一側邊，用以調整導線412的第一位置。調整元件430配置於本體410的第二側邊，用以調整導線412的第二位置。在本實施例中，調整元件420可包括頂桿421與旋鈕422。旋鈕422連接於頂桿421，且旋鈕422旋轉以帶動頂桿421產生往復運動，以使頂桿421穿入或退出本體410。
    另外，調整元件430包括頂桿431與旋鈕432。旋鈕432連接於頂桿431，且旋鈕432旋轉以帶動頂桿431產生往復運動，以使頂桿431穿入或退出本體410。而調整單元420與430的操作方式可參照「第1圖」之調整單元120與130的實施方式，故在此不再贅述。
    調整元件440配置於本體410的第三側邊，用以調整導線412的第三位置。調整元件450配置於本體410的第四側邊，用以調整導線412的第四位置。在本實施例中，調整元件440可包括頂桿441與旋鈕442。旋鈕442連接於頂桿441，且旋鈕442旋轉以帶動頂桿441產生往復運動，以使頂桿441穿入或退出本體410。
    另外，調整元件450包括頂桿451與旋鈕452。旋鈕452連接於頂桿451，且旋鈕452旋轉以帶動頂桿451產生往復運動，以使頂桿451穿入或退出本體410。如此一來，使用者可藉由旋轉旋鈕442或452，使得導線412以垂直的方式向上移動或向下移動，進而將導線412調整至位於本體410內置中的位置，以進行導線412之電流量的量測。
    感測單元462配置於本體410上且鄰近於導線412的第一側邊，用以感測導線412的第一磁通量。若導線412較接近感測單元462，則感測單元462所感測到的第一磁通量較大。反之，若導線412較遠離感測單元462，則感測單元462所感測到的第一磁通量較小。
    感測單元464配置於本體410上且鄰近於導線412的第二側邊，用以感測導線412的第二磁通量。若導線412較接近感測單元464，則感測單元464所感測到的第二磁通量較大。反之，若導線412較遠離感測單元464，則感測單元464所感測到的第二磁通量較小。
    感測單元466配置於本體410上且鄰近於導線412的第三側邊，用以感測導線412的第三磁通量。若導線412較接近感測單元466，則感測單元466所感測到的第三磁通量較大。反之，若導線412較遠離感測單元466，則感測單元466所感測到的第三磁通量較小。
    感測單元468配置於本體410上且鄰近於導線412的第四側邊，用以感測導線的第四磁通量。若導線412較接近感測單元468，則感測單元468所感測到的第三磁通量較大。反之，若導線412較遠離感測單元468，則感測單元468所感測到的第三磁通量較小。
    處理單元470耦接感測單元462、464、466與468，用以依據第一磁通量與第二磁通量，以判斷出導線412的一位置(例如水平方向的位置)，依據第三磁通量與第四磁通量，以判斷出導線412的另一位置(例如垂直方向的位置)，且依據第三磁通量計算出流經導線412的電流量。
    如此，使用者可藉由顯示單元480所顯示之導線112的位置(即水平方向的位置)與另一位置(即垂直方向的位置)，得知導線112之位置的偏移狀況。接著，利用調整單元420、430、440與450調整導線112的位置，以確保導線112位於本體410內置中的位置，進而減少電流量測時的誤差。
    請參考「第5圖」所示，其係為本揭露之感測單元462、464、466與468的配置關係示意圖。其中，感測單元462、464、466與468分別可以是感測線圈。由於導線412位於本體410內置中的位置，得感應線圈466與導線412之間的距離g為本體410之高度的1/2，因此藉由本實施例的感應單元466感測導線412上的電流，可以獲得的感應電壓如下：
    其中，參數a n 、b n 、c n 、N、g等皆為已知參數，而I為未知數。因此，可藉由上述方程式獲得I的參數，使得本實施例之近接式電流感測裝置400可準確的感測出導線412的電流量。
    請參考「第6圖」所示，其係為本揭露之另一近接式電流感測裝置的電路方塊圖。近接式電流感測裝置400包括感測單元462、464、466、468、處理單元470與顯示單元480，而其耦接關係請參考「第6圖」，故在此不再贅述。其中，處理單元470包括比較單元610、620與計算單元630。比較單元610耦接感測單元462與464，用以接收並比較第一磁通量與第二磁通量，以產生第二比較結果。比較單元620耦接感測單元466與感測單元468，用以接收並比較第三磁通量與第四磁通量，以產生第三比較結果。計算單元630耦接比較單元610、620與感測單元466，用以依據第二比較結果，判斷出導線412的位置，依據第三比較結果判斷出導線412的另一位置，以及依據第三磁通量，計算出流經導線412的電流量。
    舉例來說，當第一磁通量大於第二磁通量時，比較單元610輸出的第二比較結果例如為正，則計算單元630會判斷出導線412的位置較接近感測單元462，並於顯示單元480上顯示。當第一磁通量小於第二磁通量時，比較單元610輸出的第二比較結果例如為負，則計算單元630會判斷出導線412的位置較接近感測單元464，並於顯示單元480上顯示。當第一磁通量等於第二磁通量時，比較單元610輸出的第二比較結果例如為零，則計算單元630會判斷出導線412的位置位於感測單元462與464之間，即位於本體410內水平置中的位置，並於顯示單元480上顯示。
    當第三磁通量大於第四磁通量時，比較單元620輸出的第三比較結果例如為正，則計算單元630會判斷出導線412的位置較接近感測單元466，並於顯示單元480上顯示。當第三磁通量小於第四磁通量時，比較單元620輸出的第三比較結果例如為負，則計算單元630會判斷出導線412的位置較接近感測單元468，並於顯示單元480上顯示。當第三磁通量等於第四磁通量時，比較單元620輸出的第三比較結果例如為零，則計算單元630會判斷出導線412的位置位於感測單元466與468之間，即位於本體410內垂直置中的位置，並於顯示單元480上顯示。
    以下將進一步說明近接式電流感測裝置400的操作。首先，使用者可將導線412經由開孔411穿過本體410。接著，透過感應元件462與464感測導線412的第一磁通量與第二磁通量，且透過感測單元466與468感測導線412的第三磁通量與第四磁通量，而處理單元470據此判斷導線412的位置，並於顯示單元480上顯示。若導線412的位置較接近於感測單元462，則使用者可藉由調整單元420將導線412向左調整，使導線412遠離感測單元462而接近感測單元464。若導線412的位置較接近感測單元464，則使用者可藉由調整單元430將導線412向右調整，使導線412遠離感測單元464而接近感測單元462。藉由上述的調整，使得導線412的位置位於本體410內水平置中的位置。
    另外，若導線412的位置較接近於感測單元466，則使用者可藉由調整單元440將導線412向左調整，使導線412遠離感測單元466而接近感測單元468。若導線412的位置較接近感測單元468，則使用者可藉由調整單元450將導線412向右調整，使導線412遠離感測單元468而接近感測單元466。藉由上述的調整，使得導線412的位置位於本體410內垂直置中的位置。
    此時，藉由感測單元466感測導線412的第三磁通量，而處理單元470依據前述法拉第定律來計算第三磁通量，以獲得流經導線412上的電流。如此一來，可準確地量測出導線412上的電流，進而減少電流量測的誤差。
    藉由「第1圖」之實施的說明，可以歸納出一種近接式電流感測方法。請參考「第7圖」所示，其係為本揭露之近接式電流感測方法的流程圖。在步驟S710中，利用第一感測單元感測導線的第一磁通量，其中第一感測單元鄰近於導線的第一側邊。在步驟S720中，利用第二感測單元感測導線的第二磁通量，其中第二感測單元鄰近於導線的第二側邊。在步驟S730中，利用第三感測單元感測導線的第三磁通量，其中第三感測單元鄰近於導線的第三側邊。在步驟S740中，依據第一磁通量與第二磁通量，以判斷出導線的位置。在步驟S750中，依據第三磁通量計算出電流量。在步驟S760中，顯示導線的位置與電流量。如此，使用者便可藉由顯示導線的位置(例如水平方向的位置)，得知導線於本體內的偏移狀況。
    前述步驟S740進一步包括下列步驟。比較第一磁通量與第二磁通量，以產生第一比較結果。接著，依據第一比較結果，判斷出導線的位置。
    藉由「第4圖」之實施的說明，可以歸納出一種近接式電流感測方法。請參考「第8圖」所示，其係為本揭露之近接式電流感測方法的流程圖。在步驟S810中，利用第一感測單元感測導線的第一磁通量，其中第一感測單元鄰近於導線的第一側邊。在步驟S820中，利用第二感測單元感測導線的第二磁通量，其中第二感測單元鄰近於導線的第二側邊。在步驟S830中，利用第三感測單元感測導線的第三磁通量，其中第三感測單元鄰近於導線的第三側邊。在步驟S840中，依據第一磁通量與第二磁通量，以判斷出導線的位置。
    在步驟S850中，利用第四感測單元感測導線的第四磁通量，其中第四感測單元鄰近於導線的一第四側邊。在步驟S860中，依據第三磁通量與第四磁通量，以判斷出導線的另一位置。在步驟S870中，依據第三磁通量計算出電流量。在步驟S880中，顯示導線的位置、另一位置與電流量。如此，使用者便可藉由顯示導線的位置(例如水平方向的位置)與另一位置(例如垂直方向的位置)，得知導線於本體內的偏移狀況。
    前述步驟S840進一步包括下列步驟。比較第一磁通量與第二磁通量，以產生第二比較結果。接著，依據第二比較結果，判斷出導線的位置。前述步驟S860進一步包括下列步驟。比較第三磁通量與第四磁通量，以產生第三比較結果。依據第三比較結果，判斷出導線的另一位置。
    本揭露之實施例的近接式電流感測裝置與方法，其藉由感測單元(第一感測單元與第二感測單元；第一至第四感測單元)感測導線的磁通量，以確定導線的位置是否位於電流感測裝置本體內置中的位置。若否，則利用調整元件(第一調整元件與第二調整元件；第一至第四調整元件)調整導線的位置，使導線位於裝置本體內置中的位置，再藉由第三感測單元感測導線的磁通量，以計算出流經導線的電流量。如此一來，可有效降低電流量測的誤差。
    雖然本揭露以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何熟習相像技藝者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本揭露之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。
    100、400．．．近接式電流感測裝置
    110、410．．．本體
    111、411．．．開孔
    112、412．．．導線
    120、130、420、430、440、450．．．調整元件
    121、131、421、431、441、451．．．頂桿
    122、132、422、432、442、452．．．旋鈕
    140、150、160、462、464、466、468．．．感測單元
    170、470．．．處理單元
    180、480．．．顯示單元
    210、220．．．感測線圈
    310、610、620．．．比較單元
    320、630．．．計算單元
    第1圖係為本揭露之近接式電流感測裝置的示意圖。
    第2圖係為本揭露之感測單元140、150、160的配置關係示意圖。
    第3圖係為本揭露之近接式電流感測器的電路方塊圖。
    第4圖係為本揭露之另一近接式電流感測裝置的示意圖。
    第5圖係為本揭露之的感測單元462、464、466、468的配置示意圖。
    第6圖係為本揭露之另一近接式電流感測裝置的電路方塊圖。
    第7圖係為本揭露之近接式電流感測方法的流程圖。
    第8圖係為本揭露之另一近接式電流感測方法的流程圖。
    100．．．近接式電流感測裝置
    110．．．本體
    111．．．開孔
    112．．．導線
    120、130．．．調整元件
    121、131．．．頂桿
    122、132．．．旋鈕
    140、150、160．．．感測單元
    170．．．處理單元
    180．．．顯示單元
    权利要求:
    Claims (17)
    [1] 一種近接式電流感測裝置，包括：一本體，具有一開孔，該開孔適於一導線穿過該本體；一第一調整元件，配置於該本體的一第一側邊，用以調整該導線的一第一位置；一第二調整元件，配置於該本體的一第二側邊，用以調整該導線的一第二位置；一第一感測單元，配置於該本體上且鄰近於該導線的一第一側邊，用以感測該導線的一第一磁通量；一第二感測單元，配置於該本體上且鄰近於該導線的一第二側邊，用以感測該導線的一第二磁通量；一第三感測單元，配置於該本體上且鄰近於該導線的一第三側邊，用以感測該導線的一第三磁通量；以及一處理單元，耦接該第一感測單元、該第二感測單元與該第三感測單元，用以依據該第一磁通量與該第二磁通量，以判斷出該導線的位置，以及依據該第三磁通量計算出一電流量。
    [2] 如申請專利範圍第1項所述之近接式電流感測裝置，其中該第三感測單元包括：一第一感測線圈，配置於該本體上且鄰近於該導線的該第三側邊；以及一第二感測線圈，配置於該本體上且以一預設距離鄰近於該第一感測線圈。
    [3] 如申請專利範圍第1項所述之近接式電流感測裝置，其中該處理單元包括：一第一比較單元，耦接該第一感測單元與該第二感測單元，用以接收並比較該第一磁通量與該第二磁通量，以產生一第一比較結果；以及一第一計算單元，耦接該第一比較單元與該第三感測單元，用以依據該第一比較結果，判斷出該導線的位置，以及依據該第三磁通量，計算出該電流量。
    [4] 如申請專利範圍第1項所述之近接式電流感測裝置，更包括：一第三調整元件，配置於該本體的一第三側邊，用以調整該導線的一第三位置；一第四調整元件，配置於該本體的一第四側邊，用以調整該導線的一第四位置；以及一第四感測單元，配置於該本體上且鄰近於該導線的一第四側邊，用以感測該導線的一第四磁通量；其中，該處理單元更耦接該第四感測單元，用以依據該第三磁通量與該第四磁通量，以判斷出該導線的另一位置。
    [5] 如申請專利範圍第4項所述之近接式電流感測裝置，其中該處理單元包括：一第二比較單元，耦接該第一感測單元與該第二感測單元，用以接收並比較該第一磁通量與該第二磁通量，以產生一第二比較結果；一第三比較單元，耦接該第三感測單元與該第四感測單元，用以接收並比較該第三磁通量與該第四磁通量，以產生一第三比較結果；以及一第二計算單元，耦接該第二比較單元、該第三比較單元與該第三感測單元，用以依據該第二比較結果，判斷出該導線的位置，依據該第三比較結果判斷出該導線的另一位置，以及依據該第三磁通量，計算出該電流量。
    [6] 如申請專利範圍第4項所述之近接式電流感測裝置，其中該第一調整元件、該第二調整元件、該第三調整元件與該第四調整元件分別包括：一第一頂桿；以及一第一旋鈕，連接於該第一頂桿，且該第一旋鈕旋轉以帶動該第一頂桿產生一往復運動，以使該第一頂桿穿入或退出該本體。
    [7] 如申請專利範圍第1項所述之近接式電流感測裝置，更包括：一第一顯示單元，耦接該處理單元，用以顯示該導線的位置、另一位置與該電流量。
    [8] 如申請專利範圍第1項所述之近接式電流感測裝置，其中該導線為雙心電源線。
    [9] 如申請專利範圍第1項所述之近接式電流感測裝置，其中該第一調整元件與該第二調整元件分別包括：一第二頂桿；以及一第二旋鈕，連接於該第二頂桿，且該旋鈕旋轉以帶動該第二頂桿產生一往復運動，以使該第二頂桿穿入或退出該本體。
    [10] 如申請專利範圍第1項所述之近接式電流感測裝置，更包括：一顯示單元，耦接該處理單元，用以顯示該導線的位置與該電流量。
    [11] 一種近接式電流感測裝置，包括：利用一第一感測單元感測一導線的一第一磁通量，其中該第一感測單元鄰近於該導線的一第一側邊；利用一第二感測單元感測該導線的一第二磁通量，其中該第二感測單元鄰近於該導線的一第二側邊；利用一第三感測單元感測該導線的一第三磁通量，其中該第三感測單元鄰近於該導線的一第三側邊；依據該第一磁通量與該第二磁通量，以判斷出該導線的位置；以及依據該第三磁通量計算出一電流量。
    [12] 如申請專利範圍第11項所述之近接式電流感測方法，其中依據該第一磁通量與該第二磁通量，以判斷出該導線的位置包括：比較該第一磁通量與該第二磁通量，以產生一第一比較結果；以及依據該第一比較結果，判斷出該導線的位置。
    [13] 如申請專利範圍第11項所述之近接式電流感測方法，更包括：利用一第四感測單元感測該導線的一第四磁通量，其中該第四感測單元鄰近於該導線的一第四側邊；以及依據該第三磁通量與該第四磁通量，以判斷出該導線的另一位置。
    [14] 如申請專利範圍第13項所述之近接式電流感測方法，依據該第一磁通量與該第二磁通量，以計算出該導線的位置包括：比較該第一磁通量與該第二磁通量，以產生一第二比較結果；以及依據該第二比較結果，判斷出該導線的位置。
    [15] 如申請專利範圍第13項所述之近接式電流感測方法，依據該第三磁通量與該第四磁通量，以判斷出該導線的另一位置包括：比較該第三磁通量與該第四磁通量，以產生一第三比較結果；以及依據該第三比較結果，判斷出該導線的另一位置。
    [16] 如申請專利範圍第13項所述之近接式電流感測方法，更包括：顯示該導線的位置、另一位置與該電流量。
    [17] 如申請專利範圍第11項所述之近接式電流感測方法，更包括：顯示該導線的位置與該電流量。
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