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    • 专利摘要:
    EineProbenstift-Reinigungseinrichtung (1) besteht allgemein aus einemReinigungsbehälter(3) mit einer nach unten geschlossenen Behälterform, enthaltend eine Reinigungslösung (2),eine Stütze(4), die an der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters (3)angeordnet ist und horizontal ein Stiftboard (201) in dem Zustandstützt,in dem ein Probenstift (101) nach unten zeigt, einen externen Behälter (6),mit einem oberen Öffnungsrand(6a) zum Stützendes Rands (3b) der oberen Öffnung (3a)des oben erwähntenReinigungsbehälters(3) übereinen Stoßabsorber(5), und einen Ultraschallschwingungsgenerator (7).
    公开号:DE102004014185A1
    申请号:DE200410014185
    申请日:2004-03-23
    公开日:2004-11-18
    发明作者:Katsuhide Kubo；Fumikazu Saito
    申请人:Mitsubishi Electric Corp；
    IPC主号:G01R1-06
    专利说明:
    [0001] Dievorliegende Erfindung betrifft eine Probenstift-Reinigungsvorrichtung. Insbesonderebetrifft die vorliegende Erfindung eine Probenstift-Reinigungsvorrichtungvom Nichtkontakttyp, die einen in einem Stiftboard fixierten Probenstiftreinigt, ohne dass eine Reinigungseinspannvorrichtung in Kontakt mitdem Probenstift gelangt.
    [0002] EineLeiterplatte mit hierauf montierten Stiftkomponenten wird dahingehendinspiziert, ob das Schaltungsboard einen Verdrahtungsfehler hat,sowie eine Fehlmontage von Komponenten oder defekte Komponenten,durch Messen eines Umfangs an Elektrizität zwischen den Anschlüssen, dieauf der Leitungsplatte verwendet werden, durch einen In-Circuit-Tester. Der In-Circuit-Testerist mit einer Testeinspannvorrichtung (hiernach als Pinboard bezeichnet) versehen,die eine Vielzahl von Probenstiften jeweils entsprechend den Anschlüssen fixiert,gebildet auf der zu inspizierenden gedruckten Leiterplatte. Dieses Pinboardhält dieProbestifte gleitfähigin deren Längsrichtungunter Verwendung von Gleitabschnitten, die jeweils hierauf entsprechendden Stiften gebildet sind. Jeder der Gleitabschnitte besteht auseiner Hülleund einer Schraubenfeder, die jeweils in der Hülle bzw. der Buchse vorgesehenist. Bei Ausführungdes Leitungstests kann das Stiftboard die Probestifte in Kontaktjeweils mit den Anschlüssenbringen, gebildet auf der gedruckten Leiterplatte mit einer vorgegebenenBeaufschlagung bzw. einem vorgegebenen Schub. Jedoch kann die Spitzeeines in dem Stiftboard gehaltenen Probestifts mittels einem fremdenPartikel kontaminiert sein, beispielsweise einem Fluss von der gedrucktenLeiterplatte nach dem Ausführendes Leitungstests.
    [0003] Eswurde eine sogenannte Probenstift-Reinigungsvorrichtung vom Kontakttyphauptsächlichzum Reinigen des Probenstifts angewandt, die in der Vergangenheitvorgeschlagen wurde. Diese Probenstift-Reinigungsvorrichtung nützt eineBürste,die direkt den Stylusabschnitt des Probenstifts reinigt. Beispielsweiseoffenbart die japanische Patentveröffentlichung JP-A 5-281257 (Anspruch 1und 1) eine Probenstift-Reinigungsvorrichtungvom Kontakttyp unter Vorrichtung der Bürste. Jedoch würde dieBürstedieser Probenstift-Reinigungseinrichtungeine großeexterne Kraft auf den Probenstift ausüben. Hierdurch kann der Probenstiftaufgrund der Deformation beschädigtwerden.
    [0004] Zwischenzeitlichist eine Probenstift-Reinigungseinrichtung vom Nichtkontakttyp bekannt.Beispielsweise offenbart die japanische Patentveröffentlichung JP-A 8-290090 (Anspruch1 und 4) eine Probenstift-Reinigungseinrichtungvom Nichtkontakttyp. Die Einrichtung wirft eine Reinigungslösung zum Auflösen desfremden Partikels, das an dem Stylusabschnitt des Probenstifts haftet,und Reinigungluft auf den Stylusabschnitt des Probenstifts von oben, undsie reinigt hierdurch den Stift. Der Probenstift ist mit Ausrichtungnach oben an dem Stiftboard fixiert. Die Reinigungseinrichtung deformiertund beschädigt ingeringem Umfang des Probenstift.
    [0005] Ferneroffenbart beispielsweise die japanische Patentveröffentlichung JP-A 5-264588 (Anspruch1 und 1) ein Stiftboard,das eine statische Beaufschlagung und eine Ultraschallvibrationauf den Stylusabschnitt des Probenstifts ausübt, und hierdurch erzielt derStift einen Kontakt mit dem Anschluss und wird elektrisch leitend.Das technische Problem dieses Stiftboards ist das stabile Ausführen desLeitungstests auf der gedruckten Leiterplatte selbst dann, wenndas Schaltungsboard noch nicht flussgereinigt ist. Jedoch ist esdann, wenn der an diesem Stiftboard fixierte Probenstift durch einfremdes Partikel verunreinigt wird, erforderlich, diesen Probenstiftdurch Anwenden der oben beschriebenen, in der Vergangenheit vorgeschlagenenProbenstift-Reinigungsvorrichtungzu reinigen.
    [0006] Jedochgibt es folgende Probleme, da die dem Erfinder geläufigen Probenstift-Reinigungsvorrichtungenso ausgebildet sind, wie oben erwähnt.
    [0007] D.h.,bei der existierenden Probenstift-Reinigungseinrichtung vom Nichtkontakttypverläuftdie Reinigungslösung,die zu dem nach oben gegenüberliegendmontierten Probenstift ausgeworfen wird, nach unten entlang demProbenstift, um in dem Gleitabschnitt des Stiftboards 1 zutreten, und sie kann die in dem Gleitabschnitt platzierte Schraubenfederkorrodieren. In diesem Fall kann sich der durch die Schraubenfedergleitend fortzubewegende Probenstift nicht aufgrund der Schraubenfederkorrosiongleitend bewegen. Demnach gibt es ein Problem dahingehend, dassder Probenstift einen geringen Kontakt zu dem Anschluss auf dergedruckten Leiterplatte erzielt, und hierdurch lässt sich ein präziser Leitungstestnicht ausführen.Weiterhin gibt es ein Problem dahingehend, dass dann, wenn beispielsweiseIsopropylalkohol (IPA) oder Glycolether (GE) als Reinigungslösung verwendetwird, die Lösungsmittelhandhabungschwierig ist, die Verfügbarkeitder Lösungsmittelbegrenzt ist, und ferner der Schaden wie der Riss des Stiftboards(hiernach als Lösungsmittelrissbezeichnet) bewirkt wird, das die Lösungsmittel in das Board eindringenbzw. dieses durchdringen. Ferner gibt es ein Problem dahingehend,dass die Einrichtung sehr groß wird,da die Einrichtung einen Ausstoßmechanismuszum Ausstoßender Reinigungslösungund einen Ausstoßmechanismuszum Ausstoßender Reinigungsluft in individueller Weise erfordert. Zusätzlich prüft dann,wenn die existierende Probenstift-Reinigungseinrichtung verwendet wird,der Anwender, ob fremde Partikel von den Stiften entfernt werdenoder nicht, durch direktes Inspizieren der kleinen Probenstiftemit visueller Vorgehensweise und durch Verwendung einer Einheitwie einer Vergrößerungslinse.Demnach gibt es ein Problem, dass zum Bestätigen des Reinigungsabschlussesviel Zeit erforderlich ist.
    [0008] Dievorliegende Erfindung wurde zum Lösen der oben erwähnten Problemegeschaffen. Ein technisches Problem der vorliegenden Erfindung besteht inder Schaffung einer kleinen Probenstift-Reinigungseinrichtung, die zuverlässig lediglichden Stylusabschnitt des Probenstifts reinigt, ohne irgendwelcheSchwierigkeiten zu bewirken, beispielsweise einen Lösungsmittelrisserzeugt in dem Stiftboard zum Fixieren des Probenstifts nach demReinigen des Probenstifts. Ferner lässt sich dann, wenn die Einrichtungverwendet wird, der Reinigungszustand des Probenstifts einfach prüfen.
    [0009] EineProbenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einem Aspekt der vorliegendenErfindung ist so ausgebildet, dass sie ein Fixierelement zum aufrechtenFixieren eines Probenstifts enthält;ein Halteelement zum Halten des Fixierelements; einen Reinigungsbehälter zumAufnehmen einer Reinigungslösung;und eine Ultraschall-Erzeugungsvorrichtung zum Erzeugen von Ultraschallschwingungen,gerichtet zu der Reinigungslösung,in die der Stylus- bzw. Spitzenabschnitt eines Probenstifts, mitAusrichtung nach unten, eingetaucht bzw. immergiert ist.
    [0010] Demnachlässt sichgemäß einemAspekt der vorliegenden Erfindung lediglich der Stylusabschnittdes Probenstifts sicher wirksam unter Verwendung der zu dem Stylusabschnittdes Probenstifts durch das Medium der Reinigungslösung übertragenenUltraschallschwingung reinigen. Zur selben Zeit lässt sichaufgrund der Tatsache, dass keine Reinigungslösung, die entlang dem Probenstiftfließtund zu dem Pinboard zum Fixieren des Probenstifts gelangt, das Auftretenvon Schwierigkeiten wie das Lösungsmittelreißen, dasin dem Pinboard nach dem Ausführendes Reinigens unter Verwendung der existierenden Reinigungseinrichtungaufgetreten ist, sicher vermeiden. Weiterhin lässt sich aufgrund der Tatsache,dass gemäß der vorliegendenErfindung der Ausstoßmechanismuszum Ausstoßendes Reinigungslösungsmittelsund der Reinigungsluft, die bei der existierenden Reinigungseinrichtungeingesetzt werden, nicht erforderlich ist, die Reinigungseinrichtungkompakt ausbilden.
    [0011] Ausführungsformender vorliegenden Erfindung weden nachfolgend unter Bezug auf diebeiliegende Zeichnung erläutert;es zeigen:
    [0012] 1 eine Fragment-Querschnittsansicht derKonfiguration einer Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einerersten Ausführungsformder vorliegenden Erfindung;
    [0013] 2 eine Aufsicht des Ultraschallstrahlmechanismus,der zum Bestrahlen der Probe verwendet wird, die durch die in 1 gezeigte Probenstift-Reinigungseinrichtungzu reinigen ist, mit ultravioletten Strahlen, und der einen Körper getrenntvon der Reinigungseinrichtung hat;
    [0014] 3 eine Fragment-Querschnittsansicht derKonfiguration einer Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einerzweiten Ausführungsformder vorliegenden Erfindung;
    [0015] 4 eine Fragment-Querschnittsansicht derKonfiguration einer automatischen Probenstift-Reinigungseinrichtunggemäß einerdritten Ausführungsformder vorliegenden Erfindung; und
    [0016] 5 ein Flussdiagramm zumAngeben der Beschreibung des Betriebs der in 4 gezeigten automatischen Probenstift-Reinigungseinrichtung.
    [0017] Die 1 zeigt eine Fragment-Querschnittsansichtder Konfiguration einer Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einerersten Ausführungsformder vorliegenden Erfindung, und die 2 zeigt eineAufsicht eines Ultraviolett-Bestrahlungsmechanismus,der fürdie Bestrahlung des Probenstifts verwendet wird, der durch die in 2 gezeigte Probenstift-Reinigungseinrichtungzu reinigen ist, mit ultravioletten Strahlen, und der einen Körper aufweist,der gegenüberder Reinigungseinrichtung getrennt ist.
    [0018] UnterBezug auf die 1 istgezeigt, dass eine Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 eineReinigungseinrichtung ist, die überUltraschall-Stylusabschnitte reinigen kann, die jeweils an den Spitzender Vielzahl der Probenstifte (PP) 101 vorgesehen sind, dieaufrecht so fixiert sind, dass sie nach unten einem Pinboard (PB) 201 gegenüberliegen,als einem Fixierelement. Die Einrichtung 1 kann allgemeinbestehen aus einem Reinigungscontainer bzw. Behälter 3 mit einer nachunten geschlossenen Kastenform (Engl.: bottomed-box shape), derdie Reinigungslösung 2 enthält, einerStütze(einem Halteelement) 4, die an der inneren Unterseite diesesReinigungsbehälters 3 angeordnetist, und horizontal das Pinboard 201 in dem Zustand hält, wo dieProbenstifte 101 nach unten ausgerichtet sind, eine Außenbox bzw.einen Außenbehälter 6 miteinem oberen Öffnungsrand 6a,der den Rand (Engl.: fringe) 3b der oberen Öffnung 3a desoben erwähntenReinigungsbehälters 3 über einenStoßabsorber 5 hält, undeinen Ultraschallschwingungsgenerator (eine Ultraschallschwingungs-Erzeugungsvorrrichtung) 7.Der Ultraschallschwingungsgenerator 7 kann allgemein bestehenaus einem Vibrator 9, der in einem Innenraum 8 vorgesehenist, gebildet zwischen der Unterseite des Reinigungscontainers 3 undder Unterseite des externen Behälters 6,und sichert an der äußeren unterenSeite des Reinigungsbehälters 3;und einem Oszillator 10, der elektrisch mit diesem Vibrator 9 verbundenund an der Außenseitedes externen Behälters 6 platziertist. Der Oszillator 10 kann den Vibrator 9 oszillierenund hierdurch eine Ultraschallschwingung auf die Reinigungslösung 2 über denReinigungsbehälter 3 anwenden.Weiterhin kann der Oszillator 10 die Ultraschallschwingungperiodisch ausgeben, oder in dem Modus, in dem die Frequenz und dieAmplitude geändertist. Der Schwingungsmodus lässtsich geeignet abhängigvon der Kontaminationsbedingung des Probenstifts 101 ändern.
    [0019] EineLösung,die Ethylalkohol (hiernach als Ethanol bezeichnet) enthält, kannbevorzugt als Reinigungslösung 2 verwendetwerden. Ethanol ist allgemein verfügbar und weniger schädlich für den menschlichenKörperund das Umfeld als IPA oder GE, die für die existierende Reinigungslösung verwendetwurden. Ethanol hat eine hohe Reinigungsfähigkeit und eine geeigneteVolatilität.Die Reinigungslösung 2 kannEthanol enthalten, sie ist jedoch nicht auf die Lösung mitEthanol beschränkt.Jede Reinigungslösungmit Reinigungsfähigkeit,geringer Toxitätund Volatilität, äquivalentzu denjenigen der Lösungenthaltend Ethanol, kann als die Reinigungslösung verwendet werden. DieEthanolkonzentration kann geeignet abhängig von den Faktoren wie beispielsweiseKontaminationsbedingungen des zu reinigenden Probenstifts 101,Volatilitätder Lösungund Wirtschaftlichkeit der Lösung,bestimmt werden. Der Reinigungsbehälter 3 kann aus irgendeinemMaterial hergestellt sein, das mit der Lösung kompatibel ist, die diein der Reinigungslösung 2 verwendeteEthanol-Konzentrationaufweist, beispielsweise einem rostfreiem Stahl. Weiterhin kanndie obere Öffnung 3a desReinigungsbehälters 3 soausgebildet sein, dass sie die Größe und Form so aufweist, dassder Behälterdas Pinboard bzw. Stiftboard 201, so wie es ist, aufnehmenkann. Demnach lassen sich die Stylusabschnitt e der Vielzahl derProbenstifte 101, fixiert in diesem Stiftboard 201,gleichzeitig wirksam reinigen, ohne Ablösen der Probenstifte 101 vondem Stiftboard 201.
    [0020] DieStütze 4 kanndie Höhehaben zum Balancieren des Spalts zwischen der Höhe des Stylusabschnitts desProbenstifts 101 mit einer Länge, die von einem Stiftboard 201 zumFixieren des Stifts 101 zu einem anderen variiert, sowieder Höheder Lösungsoberfläche derReinigungslösung 2,so dass lediglich der Stylusabschnitt des Probenstifts 101, montiertan dem Stiftboard 201, das auf der Stütze 4 gehalten ist,in die Reinigungslösung 2 immergiert bzw.eingetaucht werden kann, die in dem Lösungsbehälter 3 enthalten ist.Eine Stütze 4 mitder spezifisch angepassten Längefür jedesindividuelle zu reinigendes Stiftboard 201 kann vorbereitetwerden.
    [0021] DerStoßabsorber 5 kanneine allgemeine ringförmigeKomponente sein, die an oder entlang dem oberen Öffnungsrand 6a der äußeren Boxbzw. des äußeren Behälters 6 platziertist. Dieser Stoßabsorber 5 kannaus jedem Material mit ausreichender Elastizität zum wirksamen Vibrieren lediglichdes Reinigungsbehälters 3 durchdie Ultraschallschwingung und zum Abkoppeln bzw. Unterbrechen, der Übertragungder Ultraschallschwingung von dem Reinigungsbehälter 3 zu dem externenBehälter 6 ausgebildetsein, sowie mit ausreichender Beständigkeit zum Bestehen gegenüber derUltraschallschwingung. Beispielsweise kann elastisches Materialwie Gummi bevorzugt fürden Absorber eingesetzt werden. Ist diese Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 installiert,so kann die Anordnung dieses Stoßabsorbers 5 den Einflussder Ultraschallschwingung auf ihr Umfeld eliminieren.
    [0022] DieProbenstift-Reinigungseinrichtung 1 mit einer solchen Konfigurationkann mit einem Rücklichtgerät ausgestattetsein (Ultraviolette-Abstrahlungsvorrichtung) 11, und einemLuftblasmechanismus (oder einem Gebläse) (nicht gezeigt), beidegetrennt gegenüberder Einrichtung. Das Rücklichtgerät (Engl.:backlight apparatus) bzw. das Gerät für ein von unten einfallendesLicht 11 kann als Gerätdienen, durch das das Vorliegen oder Nichtvorliegen von einem fremdenPartikel haftend an dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 geprüft wird,durch Bestrahlen des Probenstifts 101 mit ultraviolettenStrahlen vor und nach dem Reinigen des Probenstifts. Hierdurch kannder Anwender einfach visuell das Vorliegen oder Nichtvorliegen einesfremden Partikels bestätigen,der als die ultravioletten Strahlen reflektiert und hierdurch weiß erscheint.Hier bedeutet "visuell" nicht, dass derAnwender die fremden Partikel mit bloßen Augen beobachtet, sondernes bedeutet, dass der Anwender dies zwingend über die Anwendung eines Ultraviolett-Strahlungs-Entfernungsfilterausführt.Zusätzlichkann die Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 mit einerAntriebsenergieversorgung (nicht gezeigt) ausgestattet sein, dieden Umschallvibrationsgenerator 7, das Rücklichtgerät 11 unddas (nicht gezeigte) Gebläsemit Energie versorgt. Es wird angenommen, dass jede Einheit aus demGerät,der Vorrichtung und dem Mechanismus in dem Zustand vorliegt, wosie durch die Antriebsenergieversorgung (nicht gezeigt) angetriebenwerden, fürdie folgende Beschreibung des Betriebs der Probenstift-Reinigungseinrichtung.
    [0023] DerBetrieb wird nun nachfolgend beschrieben.
    [0024] Zunächst wirdder Probenstift 101, fixiert an dem zu reinigenden Stiftboard 201,mit ultravioletten Strahlen von dem Rücklichtgerät 11 bestrahlt, wiein 2 gezeigt. Auf dieseWeise kann das Vorliegen oder Nichtvorliegen fremder Partikel, anhaftendan dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101, visuell bestätigt werden.Dann wird, wie in 1 gezeigt,die Stütze 4 beider inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 platziert.Die Stütze 4 kanndie Höhehaben, die spezifisch fürdie Dicke des oben erwähnten Stiftboards 201 angeglichenist. Hiernach wird eine gewisse Menge von Reinigungslösung 2 inden Reinigungsbehälter 3 gegossen,damit es eine vorgegebene Tiefe annimmt. Die Lösung kann eine Lösung sein,die Ethanol gemäß einemvorgegebenen Umfang enthält,oder jedes andere geeignete Material in einer vorgegebenen Menge.
    [0025] Dannwird das Stiftboard 201 rücklings bzw. auf dem Kopf stehendan der Stütze 4 somontiert, dass der Probenstift 101 des Boards 201 nachunten zeigt. Somit wird der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 indie Reinigungslösung 2 miteiner vorgegebenen Tiefe eingetaucht. beispielsweise beträgt die vorgegebeneTiefe bevorzugt 1 mm. Hiernach wird der Reinigungsbehälter 3 andem oberen Abschnitt des externen Behälters 3 über dasMedium des Stoßabsorbers 5 platziert.Alternativ wird der Reinigungsbehälter 3 zunächst beidem oberen Abschnitt des externen Behälters 6 über denStoßabsorber 5 platziert. Dannwird die Stütze 4 ander inneren Unterseite dieses Reinigungsbehälters 3 platziert,und die Reinigungslösung 2 wirdin den Reinigungsbehälter 3 gegossen.Hiernach kann das Stiftboard 201 rücklings an der Stütze 4 montiertwerden, wodurch der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 inder Reinigungslösung 2 eingetauchtist.
    [0026] Alsnächsteswird der Oszillator 10 des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 getrieben,und die von dem Vibrator 9 erzeugte Ultraschallschwingungliegt an der Reinigungslösung 2 über denReinigungsbehälter 3 an.Demnach wird das Reinigen des Probenstifts 101 gestartet.Dann wird, nach dem Verstreichen einer vorgegebenen Zeit, das Treibendes Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 gestoppt. Das Stiftboard 201 zumFixieren des Probenstifts 101 wird von dem Reinigungsbehälter 3 bewegt,und die Reinigungslösung 2,abgeschieden an dem Probenstift 101, wird verdampft. Zudieser Zeit kann, wenn erforderlich (nicht gezeigt) die Lösung hiervonunter Verwendung des Winds von dem Gebläse verdampft bzw. verdunstetbzw. abgeführtwerden. Das Stiftboard 201 zum Fixieren des Probenstifts 101 istso platziert, dass der Probenstift 101 nach oben zeigt. Dannlässt sichdie ...... bedingung fürdas Fremdpartikel, haftend an dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101,in jeder geeigneten Weise beobachten. Beispielsweise kann die Entfernungsbedingungvisuell beobachtet werden, durch Bestrahlen des Stylusabschnittmit ultravioletten Strahlen von dem Rücklichtgerät 11, wie in 2 gezeigt. Wir bestätigt, dass dasFremdpartikel vollständigentfernt wurde, so kann das Stiftboard 201 für den Leitungstestder Einrichtungen wie beispielsweise einer gedruckten Leiterplatte(nicht gezeigt) wiederverwendet werden.
    [0027] Wieoben erwähnt,ist die Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß der ersten Ausführungsformso gebildet, dass sie den Ultraschall-Vibrationsgenerator 7,der die Ultraschallvibration erzeugen kann, die zu der Reinigungslösung 2 gerichtetist, in die der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 nachunten ausgerichtet eintaucht. Auf diese Weise lässt sich lediglich der Stylusabschnittdes Probenstifts 101 sicher wirksam durch die Ultraschallvibrationreinigen, die zu dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 über dasMedium der Reinigungslösung 2 getragenwird. Zur selben Zeit lässtsich aufgrund der Tatsache, dass keine Reinigungslösung 2 vorliegt,die entlang dem Probenstift 101 fließt und in das Stiftboard 201 eindringt,das Auftreten von Schwierigkeiten wie beispielsweise das Bewirkendes Lösungsmittelrissesin dem Stiftboard 201 nach der Anwendung der aus der Vergangenheitbekannten Reinigungsvorrichtung sicher vermeiden. Weiterhin sindgemäß der ersten Ausführungsformder Auswurfmechanismus zum Auswerfen der Reinigungslösung undder Reinigungsluft, die üblicherweiseeingesetzt werden, nicht erforderlich. Demnach kann die Reinigungseinrichtungkompakt ausgebildet sein.
    [0028] Gemäß der erstenAusführungsformwird die Probenstift-Reinigungseinrichtungso gebildet, dass sie Ethanol als Reinigungslösung 2 umfasst. Demnachist es möglich,einfacher die Reinigungslösung zuerhalten, den Einfluss des menschlichen Körpers und des Umfelds zu verringern,die Reinigungsfähigkeitzu verbessern und einfacher der Probenstift 101 zu trocknen,aufgrund von dessen exzellenter Volatilität im Vergleich zu IPA oderGE, die in der Vergangenheit als die Reinigungslösungen verwendet wurden.
    [0029] Gemäß der erstenAusführungsformist die Reinigungseinrichtung so gebildet, dass sie das Rücklichtgerät 11 enthält, durchdas der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 mit ultraviolettenStrahlen bestrahlt wird, und hierdurch lässt sich das Vorliegen oderNichtvorliegen des fremden Partikels anhaftend an dem Stylusabschnittvisuell bestätigen.Demnach kann der Anwender einfach visuell das Vorliegen oder Nichtvorliegendes fremden Partikels bestätigen,da es ultravioletten Strahlen reflektiert und hierdurch weiß scheint,mittels der Bestrahlung des Probenstifts 101 mit ultraviolettenStrahlen vor und nach dem Reinigen des Probenstifts 101.
    [0030] Die 3 zeigt eine Fragment-Querschnittsansichtfür dieKonfiguration einer Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einerzweiten Ausführungsformder vorliegenden Erfindung. Von den Aufbauelementen, die bei derzweiten Ausführungsformverwendet werden, sind die Aufbauelemente, die gemeinsam zu denjenigensind, die in der ersten Ausführungsformverwendet sind, anhand ähnlicherBezugszeichen bezeichnet. Die Erläuterung der Elemente ist weggelassen.
    [0031] Eswurde festgestellt, dass insbesondere gute Ergebnisse dann erhaltenwerden, wenn ein Reflexionsspiegel 12 zum Reflektierender ultravioletten Strahlen von dem Rücklichtgerät 11 und zum Anwendender Strahlen auf dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 über derinneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 vorgesehenist. Gemäß der zweitenAusführungsformkann das Rücklichtgerät 11 schräg über demReinigungsbehälter 3 soangeordnet sein, dass sich Ultraviolettstrahlen zu dem Reflexionsspiegel 12 anwendenlassen, der in dem Reinigungsbehälter 3 vorgesehenist, schrägausgehend von oberhalb der oberen Öffnung 3a des Reinigungsbehälters 3.Zusätzlichkann dann, wenn das Innere des Reinigungsbehälters 3 aus Materialhergestellt ist, das ultraviolette Strahlen überträgt, der Reflexionsspiegel 12 über der äußeren Unterseitedes Reinigungsbehälters 3 vorgesehensein.
    [0032] DerBetrieb wird nun wie nachfolgend beschrieben.
    [0033] Wiein 3 gezeigt, wird zunächst dieStütze 4,zugewiesen dem Stiftboard 201, an dem Reflexionspiegel 12 platziert,der überder inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 vorgesehenist. Hiernach wird die Reinigungslösung 2 mit vorgegebenemUmfang in den Reinigungsbehälter 3 sogegossen, dass sie eine vorgegebene Tiefe annimmt. Es ist zu erwähnen, dassdie LösungEthanol oder irgendein anderes Material enthalten kann.
    [0034] Dannist das Stiftboard 201 rücklings so auf der Stütze 4 montiert,dass der an dem Board 201 fixierte Probenstift 101 nachunten ausgerichtet ist. Als nächstewird der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 miteiner vorgegebenen Tiefe eingetaucht. Beispielsweise kann die vorgegebeneTiefe 1 mm sein. Hiernach wird der Reinigungsbehälter 3 an dem oberenAbschnitt des externen Behälters 6 über denStoßabsorber 5 platziert. Alternativwird der Reinigungsbehälter 3 andem oberen Abschnitt des externen Behälters 6 über den Stoßabsorber 5 platziert.Dann wird die Stütze 4 an derinneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 platziert.Anschließendwird Reinigungslösung 2 in denReinigungsbehälter 3 gegossen.Hiernach kann das Stiftboard 201 rücklings auf der Stütze 4 platziert sein,so dass der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in dieReinigungslösung 2 eintaucht.
    [0035] Alsnächsteswird das Rücklichtgerät 11 erleuchtet,und die ultravioletten Strahlen hiervon liegen an dem Reflexionsspiegel 12 an,der überder inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 installiertist. Währendeinem visuellen Beobachten des Fremdpartikels, das weiß aufgrundder Bestrahlung mit ultravioletten Strahlen scheint, und an demStylusabschnitt des Probenabschnitts 101 haftet, wird derOszillator 10 des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 getrieben,und hierdurch liegt die von dem Vibrator 9 erzeugte Ultraschallvibrationan der Reinigungslösung 9 über denReinigungsbehälter 3 an. Hierdurchwird das Reinigen des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 gestartet.Dann kann, wenn das Entfernen der Fremdpartikel noch nicht vollständig abgeschlossenist, obgleich eine vorgegebene Zeit verstrichen ist, die Reinigungszeitim Umfang des Erfordernis erweitert werden. Dann wird, wenn bestätigt wird,dass die Fremdpartikel vollständigentfernt sind, das Rücklichtgerät 11 abgeschaltet,und der Antrieb des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 wirdgestoppt. Hiernach wird das Pinboard 201 zum Fixieren des Probenstifts 101 vondem Reinigungsbehälter 3 bewegt,und die an dem Probenstift 101 anhaftende Reinigungslösung 2 kannverdampft bzw. entfernt werden. Zu dieser Zeit kann die Lösung 2 hiervonunter Verwendung des Winds von dem Gebläse verdampft bzw. entferntwerden, sofern erforderlich (nicht gezeigt). Auf diese Weise lässt sichdas Stiftboard 201 füreinen Leitungstest fürEinrichtungen wie einer gedruckten Leiterplatte (nicht gezeigt)wieder verwenden.
    [0036] Wieoben erwähnt,erfolgt gemäß der zweitenAusführungsformein Aufbau, zusätzlichzu der Konfiguration der ersten Ausführungsform, dahingehend, dassder Reflexionsspiegel 12, der die Ultraviolettstrahlenvon dem Rücklichtgerät 11 reflektiert unddie Strahlen zu dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 weiterleitetbzw. an diesen anlegt, überder inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 vorgesehenist. Hierdurch kann, währendein Beobachten der Entfernungsbedingung für die Fremdpartikel haftendan dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 erfolgt, insbesonderedes Reinigungspegels, der Anwender den Ultraschall-Vibrationsgenerator 7 treiben undbewirken, dass der Generator Ultraschallvibration erzeugt, wodurchlediglich der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 durchAnwendung der Vibration gereinigt wird. In der ersten Ausführungsformkonnte der Anwender das Stiftboard 201 des Probenstifts 101 vonder Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 abnehmen und erkonnte dann das Reinigungsniveau des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 bestätigen. Jedochkann bei der zweiten Ausführungsform derAnwender das Reinigen des Probenstifts in einer weiter verkürzten Zeitmit einem höherenUmfang an Wirkungsgrad ausführen.
    [0037] Die 4 zeigt eine Fragment-Querschnittsansichtzum Darstellen der Konfiguration einer automatischen Probenstift-Reinigungseinrichtunggemäß einerdritten Ausführungsformder vorliegenden Erfindung, und die 5 zeigtein Flussdiagramm zum Angeben der Beschreibung des Betriebs derin 4 gezeigten automatischenProbenstift-Reinigungseinrichtung. Von den Aufbauelementen, diebei der dritten Ausführungsformverwendet werden, sind die Aufbauelemente, die gemeinsam sind zudenjenigen, die bei der ersten Ausführungsform verwendet werden,anhand ähnlicherBezugszeichen bezeichnet. Die Erläuterung der Elemente ist weggelassen.
    [0038] Eswurde festgestellt, dass besonders gute Ergebnisse dann erhaltenwerden, wenn die Ultraschallreinigung des Stylusabschnitt des Probenstifts 101 automatischausgeführtwird. D.h., wie in 4 gezeigt,es wird ein Schwarzlicht-Übertragungsgebiet(Engl.: black light transmission region) 3c an der Unterseitedes Reinigungsbehälters 3 einerautomatischen Probenstift-Reinigungseinrichtung 20 gebildet.Ferner ist der Innenraum 8 mit einer Bilderkennungskamera 21 ausgestattet,mit einer Schwarzlicht-Beleuchtungsfunktion, unter dem Schwarzlicht-Übertragungsgebiet 3c.
    [0039] DieBilderkennungskamera 21 kann einen Mechanismus enthalten,der selektiv und sequentiell den Stylusabschnitt von zumindest einemProbenstift beobachtet, aus der Vielzahl der Probenstifte 101, diean dem Stiftboard 201 fixiert sind, das an dem Reinigungsbehälter 3 montiertist, währendeinem Bestrahlen des Stylusabschnitt mit ultravioletter Strahlung.Weiterhin kann an der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 einStyluspositions-Detektionssensor 22, ein Pegelmessgerät 23 undein elektrischer Elevator bzw. eine elektrische Hebevorrichtung 24 vorgesehensein. Der Styluspositions-Detektionssensor 22 kann diePositionen der Stylusabschnitte der Probenstifte 101 detektieren, andersals der Probenstift 101, der durch die oben erwähnte Bilderkennungskamera 21 zubeobachten ist. Das Pegelmessgerät 23 kannden Pegel der Reinigungslösung 2 detektieren,die in den Reinigungsbehälter 3 eingegossenist. Der elektrische Elevator (Hebevorrichtung) 24 kannhorizontal das Stiftboard 201 so anheben oder absenken,dass die Positionen (Höhen)der Stylusabschnitte der Probenstifte 101 im Hinblick aufden Pegel der Reinigungslösung 2 geändert werdenkönnen.
    [0040] Eskann elektrisch mit einem Computer 25 jede Einheit vonder Bilderkennungskamera 21, dem Styluspositions-Detektionssensor 22,dem Pegelmessgerät 23,dem elektrischen Elevator 24 und dem Oszillator 10 desUltraschall-Vibrationsgenerators 7 verbunden sein. Demnachkann der Computer 25 den Antrieb des elektrischen Elevators 24 unddes Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 steuern,abhängig vonder Information von der Bilderkennungskamera 21, dem Styluspositions-Detektionssensor 22 und demPegelmessgerät 23.Spezifischer kann der Computer 25 einen/eine Bilderkennungsmechanismusoder -Vorrichtung in Wechselwirkung mit der Bilderkennungskamera 21 bilden.Der Bilderkennungsmechanismus kann den Reinigungspegel des Stylusabschnittsdes Probenstifts 101 kennen, durch Analysieren der Bildinformation über denStylusabschnitt des Probenstifts 101 von der Bilderkennungskamera 21.
    [0041] Weiterhinkann der Computer 25 einen Prüfmechanismus in Wechselwirkungmit dem Styluspositions-Detektionssensor 22 und dem Pegelmessgerät 23 bilden.Der Prüfmechanismuskann prüfen,ob der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 eintauchtoder nicht, zum Signalisieren der Positionsinformation für den Stylusabschnitt desProbenstifts 101 von dem Styluspositions-Detektionssensor 22 undder Pegelinformation fürdie Reinigungslösung 2 vondem Pegelmessgerät 23.Ferner kann die Oberseite des elektrischen Elevators 24 miteinem Gewichtssensor (nicht gezeigt) versehen sein, der bestimmt,ob das Stiftboard 201 hierauf platziert ist oder nicht.
    [0042] DasRücklicht-Übertragungsgebiet 3c kann bevorzugtGlas als sein Material verwenden, jedoch ist das Material nichtauf Glas beschränkt.Das Rücklicht-Übertragungsgebiet 3c kannaus jedem anderen Material hergestellt sein, das einen Durchlassgrad undmechanische Stärkeaufweist, die vergleichbar mit derjenigen von Glas ist.
    [0043] Derelektrische Elevator bzw. das elektrische Hebewerk 24 kannjeden Anhebe- und Absenkmechanismus umfassen, der elektrisch dasStarten und Stoppen des Anhebens und Absenkens des Stiftboards 201 durchden Befehl von dem Computer 25 timen kann, und präzise dasStiftboard 201 anheben oder absenken kann, beispielsweisein der Einheit eines Millimeters.
    [0044] Zusätzlich kanndann, wenn der Pinboard 201 eine nicht kontaktierende Komponente 26 hat, dienicht in Kontakt zu der Reinigungslösung 2 wie Ethanolgelangen soll, das Stiftboard 201 eine vorstehende Abdeckung 27 zumAbdecken der nicht zu kontaktierenden Komponente 26 haben,wie beispielsweise in 4 gezeigt.Beispielsweise kann die vorstehende Abdeckung entfernbar hieranmit einer Schnapppressstruktur (Engl.: snapfit structure) oder irgendeineranderen gewünschtenWeise angebracht sein.
    [0045] DerBetrieb wird nun wie folgt beschrieben.
    [0046] Vordem Start des Reinigens wird der elektrische Elevator 24 zunächst beider Position gestoppt, wo der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 nichtin die Reinigungslösung 2 eintaucht(hiernach in Bezug genommen als die obere Position). Der Umfangder Reinigungslösung 2 wirdso bestimmt, dass der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 nichtin die Reinigungslösung 2 danneintaucht, wenn das Stiftboard 201 rücklings an dem elektrischenElevator 24 montiert ist. In diesem Zustand kann das Pegelmessgerät 23 genauden Pegel der Reinigungslösung 2 indem Reinigungsbehälter 3 messen(Schritt ST1). Ist der Pegel der Lösung detektiert, so wird diePegelinformation zu dem Computer 25 gesendet und in diesem gespeichert.
    [0047] Dannprüft ein(nicht gezeigter) Gewichtssensor, ob das Stiftboard 201 andem elektrischen Elevator 24 montiert ist oder nicht (SchrittST2). Ist das Stiftboard 201 an dem elektrischen Elevator 24 montiert,so wird die geprüfteInformation zu dem Computer 25 übertragen. Diese Informationsübertragungwird ein Trigger, und der Styluspositions-Detektionssensor 22 detektiertdie Position des Stylusabschnitts des Stiftboards 201,der an dem elektrischen Elevator 24 montiert ist (SchrittST3). Wird. diese Styluspositions-Detektionsinformation zu dem Computer 25 gesendet,so bestimmt der Computer 25 die Position, bei der lediglichder Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 eintaucht(hiernach als untere Position in Bezug genommen), auf der Grundlageder Styluspositions-Detektionsinformationund der oben erwähntenPegelinformation, und er bewirkt das Absenken des elektrischen Elevators 24 zuder unteren Position (Schritt ST4).
    [0048] Dannbewirkt in dem Zustand, in dem der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 indie Reinigungslösung 2 eingetauchtist, die Rücklichtfunktion derBilderkennungskamera 21 das Anlegen von ultraviolettenStrahlen zu dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 über dasRücklicht-Übertragungsgebiet 3c,und zu derselben Zeit überwachtdie Bilderkennungskamera 21 den Stylusabschnitt des Probenstifts 101 indem Zustand, in dem die Reinigung noch nicht gestartet ist (SchrittST5). Diese Bildinformation kann sukzessive zu dem Computer 25 gesendetwerden, als Information zum Anzeigen der Kontaminationsbedingungdes Stylusabschnitts des Probenstifts 101.
    [0049] Dannwird der Oszillator 10 des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 getrieben,und der Vibrator 9 erzeugt eine Ultraschallvibration zuder Reinigungslösung 2 über denReinigungsbehälter 3.Demnach wird das Reinigen des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 gestartet(Schritt ST6). Dann bestimmt auf der Grundlage der Bildinformation, überwachtdurch die Bilderkennungskamera 21, der Computer 25,ob das Fremdpartikel des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 vollständig entferntist oder nicht (Schritt ST7). Wird bestimmt, dass das Fremdpartikel vollständig weggenommenist, so wird der Betrieb in der Bilderkennungskamera 21 undder Antrieb des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 gestoppt,und die Reinigung wird beendet (Schritt ST8).
    [0050] Dannwird das Stiftboard 201 in dem Zustand abgenommen, beidem der elektrische Elevator 24 in der oberen Positiongehalten ist. Dann belüftetdas Gebläse(nicht gezeigt) den Probenstift 101, fixiert an dem Stiftboard 201,wenn erforderlich, wodurch die Reinigungslösung 2, die hieraufabgeschieden ist, verdampft bzw. entfernt wird. Auf diese Weisekann das Stiftboard 201 durch den Leitungstest von Einrichtungenwie einer gedruckten Leiterplatte (nicht gezeigt) wiederverwendetwerden.
    [0051] Wieoben erwähnt,ist gemäß der drittenAusführungsformdie Probenstift-Reinigungseinrichtung so gebildet, dass sie dieBilderkennungskamera 21 und den Computer 25 alsBilderkennungsvorrichtung enthält,die das Fremdpartikel an dem Probenstift 101 beobachtenkönnen,durch Erkennen des Bilds von dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101,wenn er mit ultravioletter Strahlung bestrahl wird, und zusätzlich zudem Ultraschall-Vibrationsgenerator 7. Hierdurch kann die Probenstift-Reinigungseinrichtungmittels Ultraschall den Stylusabschnitt des Probenstifts 101 reinigen,währenddas Reinigungsniveau des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 überwachtwird. Demnach lässtsich die Reinigungszeit steuern, und das Reinigen des Stylusabschnittsdes Probenstifts 101 kann automatisiert werden.
    [0052] Gemäß der drittenAusführungsformist die Probenstift-Reinigungseinrichtungso gebildet, dass sie den Styluspositions-Detektionssensor 22,das Pegelmessgerät 23 undden Computer 25 enthält,als Detektionseinheit, die prüfenkann, ob der Stylusabschnitt des Probenstifts 101, fixiertan dem Stiftboard 201, in die Reinigungslösung 2 eingetauchtist oder nicht, und den elektrischen Elevator (die Hebevorrichtung) 24,die die Position von der Position des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 imHinblick auf den Pegel der Reinigungslösung 2 auf der Grundlage derdurch diese Detektionseinheit erhaltenen Detektionsinformation ändern kann.Aus diesem Grund kann dann, wenn der Anwender einfach das Stiftboard 201 andem elektrischen Elevator 24 montiert, das Stiftboard 201 automatischangehoben oder abgesenkt werden, so dass lediglich der Stylusabschnittdes Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 eintauchenkann, wodurch der Vorbereitungsprozess vor dem Start des Reinigungsprozessesautomatisiert ist.
    5ST1 Reinigungslösungspegelgemessen ST2 Stiftboardmontiert ST3 Styluspositiondetektiert ST4 ElektrischerElevator abgesenkt ST5 Stylusüberwachunggestartet ST6 Registergestartet ST7 Fremdpartikelentfernt ST8 Überwachen/Reinigenbeendet End= Ende Yes= Ja No= Nein
    权利要求:
    Claims (6)
    [1] Probenstift-Reinigungseinrichtung (1),enthaltend: ein Fixierelement (201) zum aufrechtenFixieren eines Probenstifts (101); ein Halteelement(4) zum Halten des Fixierelements (201); einenReinigungsbehälter(3) zum Aufnehmen einer Reinigungslösung; und eine Ultraschallvibrations-Erzeugungsvorrichtung(7) zum Erzeugen von Ultraschallschwingungen, gerichtetzu der Reinigungslösung,in die der Stylusabschnitt des Probenstifts (101) nachunten gerichtet eintaucht.
    [2] Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch1, wobei die ReinigungslösungEthylalkohol enthält.
    [3] Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch2, enthaltend eine Ultraviolett-Bestrahlungsvorrichtung (11)zum Bestrahlen des Stylusabschnitts des Probenstifts (101)mit ultravioletten Strahlen zum Detektieren des Vorliegens oderNichtvorliegens eines Fremdpartikels an dem Abschnitt.
    [4] Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch3, enthaltend einen Reflexionsspiegel, der an der Unterseite desReinigungsbehälters(3) mit der Reinigungslösungvorgesehen ist, zum Reflektieren der ultravioletten Strahlen vonder Ultraviolette-Bestrahlungsvorrichtung, und zum Anlegen der Strahlenzu dem Stylusabschnitt des Probenstifts (101).
    [5] Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch3, enthaltend eine Bilderkennungsvorrichtung (21) zum Erkennendes Bilds des Stylusabschnitts des Probenstifts (101),das mit den ultravioletten Strahlen bestrahlt wird, und hierdurchzum Detektieren des Vorliegens oder Nichtvorliegens eines Fremdpartikelsan dem Probenstift (101).
    [6] Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch5, enthaltend: eine Prüfvorrichtung(22, 23, 25) zum Prüfen, ob der Stylusabschnittdes Probenstifts fixiert an dem Fixierelement (201) indie Reinigungslösungeintaucht oder nicht; und eine Hebevorrichtung (24)zum Ändernder Position des Stylusabschnitts des Probenstifts (101)im Hinblick auf den Pegel der Reinigungslösung abhängig von der Prüfinformation,die durch die Prüfvorrichtung(22, 23, 25) abgegeben ist.
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    引用文献:
    公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
    法律状态:
    2004-11-18| OP8| Request for examination as to paragraph 44 patent law|
    2015-10-01| R119| Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee|
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
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