一种带高度测量装置的三线摆

专利摘要:
本实用新型公开了一种带高度测量装置的三线摆，包括支架、上悬盘、下悬盘、连接上悬盘和下悬盘的三根悬线，还包括第一测高器、第二测高器和直尺。支架包括底座、立杆、横梁，立杆两端分别与底座、横梁垂直连接。第一测高器包括基座、转轴、卡尺、尺架。基座为长方体形状，基座内垂直基座上、下表面设置有贯通基座的立杆孔，基座通过立杆孔套设在立杆上。转轴固定设置于基座前表面中部，卡尺可转动套设在转轴上，尺架与基座侧壁固定连接。第二测高器套设在立杆上、第一测高器的下方。直尺与立杆平行，直尺两端分别固定在第一测高器、第二测高器的尺架上。本实用新型有利于上悬盘、下悬盘间垂直距离的准确测量。
公开号:CN214334132U
申请号:CN202120412564.1U
申请日:2021-02-24
公开日:2021-10-01
发明作者:姜贞伊；匡芃远；陈健
申请人:Jiangnan University；
IPC主号:G01M1-10

专利说明:
[n0001] 本实用新型涉及一种转动惯量测定仪，具体为一种带高度测量装置的三线摆。
[n0002] 三线摆是测量物体转动惯量的常用力学实验仪器，一般由支架、上悬盘、下悬盘以及连接上悬盘和下悬盘的三根悬线组成。用此实验仪器测转动惯量时，误差主要来自下悬盘的扭转角度、扭转周期，以及上悬盘、下悬盘间的垂直距离。其中，上悬盘与下悬盘的直径不同，且下悬盘处于可活动悬挂状态，给上悬盘、下悬盘间垂直距离的准确测量带来不便。
[n0003] 本实用新型的目的，是开发一种有利于准确测量上悬盘、下悬盘间垂直距离的带高度测量装置的三线摆。
[n0004] 为了解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案：
[n0005] 一种带高度测量装置的三线摆，包括支架、上悬盘、下悬盘，以及连接上悬盘和下悬盘的三根悬线；所述支架包括底座、立杆、横梁，所述立杆两端分别与底座、横梁垂直连接；
[n0006] 本实用新型还包括第一测高器、第二测高器和直尺，所述第一测高器、第二测高器分别用于测量上悬盘、下悬盘所处高度的位置坐标；
[n0007] 所述第一测高器包括基座、转轴、卡尺、尺架；所述基座为长方体形状，基座内垂直基座上、下表面设置有贯通基座的立杆孔，基座表面还设有连通立杆孔的螺纹孔并配有紧固旋钮，基座通过所述立杆孔套设在立杆上，并通过紧固旋钮与立杆固定；所述转轴固定设置于基座的前表面中部；所述卡尺的尺身上设置有转轴孔，卡尺通过转轴孔套设在转轴上可绕转轴转动；所述尺架与基座的侧壁固定连接，用于固定直尺；
[n0008] 所述第二测高器的构成、形状、材质均与第一测高器相同，第二测高器套设在所述立杆上、第一测高器的下方；
[n0009] 所述直尺与立杆平行，直尺两端分别固定在第一测高器、第二测高器的尺架上。
[n0010] 所述尺架表面设有磁性贴片，所述直尺背面贴设有引磁片，直尺两端分别磁性吸附在第一测高器、第二测高器的尺架表面。
[n0011] 本实用新型在原三线摆基础上增设第一测高器、第二测高器和直尺，有利于上悬盘、下悬盘间垂直距离的准确测量。新增装置在不使用时可转至与立杆方向一致，不影响实验操作和其他实验数据的测量。
[n0012] 下面结合附图对本实用新型作进一步说明。
[n0013] 图1是本实用新型的构成示意图。
[n0014] 图2是本实用新型的测量示意图。
[n0015] 图3是第一测高器的构成示意图(俯视图，含直尺)。
[n0016] 图4是卡尺的形状示意图。
[n0017] 图中：1.支架，11.底座，12.立杆，13.横梁，2.上悬盘，3.下悬盘，4.悬线，5.第一测高器，51.卡尺，511.转轴孔，512.上端面，513.下端面，52.基座，53.立杆孔，54.转轴，55.紧固旋钮，56.尺架，57.磁性贴片，6.第二测高器，61.卡尺，64.转轴，66.尺架，7.直尺。
[n0018] 参见图1，支架1包括底座11、立杆12、横梁13，立杆12两端分别与底座11、横梁13垂直连接，上悬盘2固定在横梁13上，悬线4共三根，每根悬线4的上端连接上悬盘2，下端连接下悬盘3。
[n0019] 参见图3、图2、图1，第一测高器5包括基座52、转轴54、卡尺51、尺架56。基座52为长方体形状，基座52内垂直基座52的上、下表面设置有贯通基座52的立杆孔53，基座52的后表面设有连通立杆孔53的螺纹孔并配有紧固旋钮55，基座52通过立杆孔53套设在立杆12上，并通过紧固旋钮55与立杆12固定。转轴54固定设置于基座52的前表面中部。卡尺51的形状参见图4，卡尺51的尺身上设置有转轴孔511，转轴孔511两侧为等宽的长条形，卡尺51通过转轴孔511套设在转轴54上，转轴孔511中心到卡尺51右端的距离大于立杆12中心到上悬盘2边缘的最短距离，转轴孔511中心到卡尺51左端的距离大于转轴54中心到基座52左侧壁的水平距离。尺架56与基座52的左侧壁固定连接，尺架56表面设有磁性贴片57。
[n0020] 第二测高器6的构成、形状、材质均与第一测高器5相同，第二测高器6套设在立杆12上、第一测高器5的下方。
[n0021] 直尺7背面贴设有引磁片，直尺7与立杆12平行，两端分别磁性吸附在第一测高器5的尺架56和第二测高器6的尺架66上。
[n0022] 第一测高器5的卡尺51和第二测高器6的卡尺61在不使用时可分别绕转轴54和转轴64转至竖直方向，参见图1。
[n0023] 参见图2、图3、图4,测量上悬盘2与下悬盘3间的垂直距离时，将第一测高器5的卡尺51和第二测高器6的卡尺61分别转至水平位置，松开紧固旋钮55，上下移动基座52调节第一测高器5的高度，使卡尺51右侧上端面512与上悬盘2的下表面贴合。上下移动直尺7，使直尺7的零刻度线与卡尺51左侧上端面512对齐。接着，上下移动第二测高器6，使卡尺61右侧下端面与下悬盘3的上表面贴合，读取卡尺61左侧下端面指示的直尺7的读数，该读数即为上悬盘2、下悬盘3间的垂直距离。
[n0024] 若直尺7为铁质尺，可直接吸附在第一测高器5的尺架56和第二测高器6的尺架66上。

权利要求:
Claims (2)
[0001] 1.一种带高度测量装置的三线摆，包括支架、上悬盘、下悬盘，以及连接上悬盘和下悬盘的三根悬线；所述支架包括底座、立杆、横梁，所述立杆两端分别与底座、横梁垂直连接；其特征在于：
还包括第一测高器、第二测高器、直尺；
所述第一测高器包括基座、转轴、卡尺、尺架；所述基座为长方体形状，基座内垂直基座上、下表面设置有贯通基座的立杆孔，基座通过所述立杆孔套设在立杆上；所述转轴固定设置于基座的前表面中部；所述卡尺的尺身上设置有转轴孔，卡尺通过转轴孔套设在转轴上可绕转轴转动；所述尺架与基座的侧壁固定连接；
所述第二测高器的构成、形状、材质均与第一测高器相同，第二测高器套设在所述立杆上、第一测高器的下方；
所述直尺与立杆平行，直尺两端分别固定在第一测高器、第二测高器的尺架上。
[0002] 2.根据权利要求1所述的一种带高度测量装置的三线摆，其特征在于：所述尺架表面设有磁性贴片，所述直尺背面贴设有引磁片，直尺两端分别磁性吸附在第一测高器、第二测高器的尺架表面。

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同族专利:

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公开号 | 公开日

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引用文献:

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公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题

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法律状态:
2021-10-01| GR01| Patent grant|

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2021-10-01| GR01| Patent grant|

优先权:

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申请号 | 申请日 | 专利标题

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