一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置

专利摘要:
本实用新型提供的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，包括主体箱，所述主体箱内设置有光路单元，所述主体箱上设置有对中标志调整工作台和基座架。本实用新型的优点在于：降低了校正难度，减少了校正人员数量且进一步提高工作效率。
公开号:CN214333823U
申请号:CN202120604839.1U
申请日:2021-03-23
公开日:2021-10-01
发明作者:黄晶晶；路雄；陶茂盛；黄智�；王文涛
申请人:No2 Monitoring Centre Of China Seismological Bureau；
IPC主号:G01C25-00

专利说明:
[n0001] 本实用新型涉及测绘仪器计量技术领域，具体为一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置。
[n0002] 经纬仪、全站仪以及GPS接收机作为常规的精密测量仪器，广泛应用于军事、建筑等诸多领域，在测量过程中需要在同一原点处多次架设相同或不同的仪器。为保证观测数据的质量，对于测绘原点的二次定位精度应该满足相应的技术要求，其中仪器基座的光学对中器的对中误差是影响二次定位精度指标的重要因素，满足基座光学对中器精度具有极其重要的意义。仪器出厂时会给出这些精度指标，称为标称精度。标称精度是相对一批同规格仪器的一个统计概念，一台仪器的实际精度与标称精度会存在差别。另外，仪器在经过一段时间的使用后，仪器同轴度、光路等参数也会随之发生变化。所以，使用中的测绘仪器基座也需要经常进行检验校准，以便使用者及时掌握仪器的工作状态，从而确保观测数据的质量。
[n0003] 根据现有检定规程《JJG 414-2011光学经纬仪》中的5.7及7.3.9与《JJG 100-2003全站型电子速测仪》中4.10的技术要求，光学对中器在进行校准修正时，需要使其准确照准仪器基座下方对中标志(图2)的十字中心。由于上述检定要求在校正基座光学对中器时其与对中标志的距离应大于1.5m,所以目前采用的校正方式是由两名校正人员配合，在三脚架上架设基座，在地面放置对中标志来满足检定规程的距离要求，其中一名校正人员通过基座的光学对中器望远镜目镜观查光学对中器的十字中心与对中标志的十字中心的相对位置，另一名校正人员在瞄准人员的指挥下不断的调整对中标志的位置，使二者十字中心相互重合，由于透镜成像、调整距离以及人员信息交流的影响，容易造成调整方向相反、位置调整过量的问题。这种操作方式极大地影响校正人员的工作效率，进而对检定效率造成不良影响。
[n0004] 因此，如何由一名操作人员直接进行目标的瞄准以及对中标志的移动，是提高对中器校正效率和提升对中器校正质量的关键。
[n0005] 为解决现有技术中的这个技术缺陷，本实用新型提供的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，包括主体箱，所述主体箱内设置有光路单元，所述主体箱上设置有对中标志调整工作台和基座架。
[n0006] 进一步的，所述光路单元为固定设置在主体箱底部的一组三棱镜盒，所述三棱镜盒分别倾斜设置有三棱镜，所述三棱镜盒上设置有用于调节所述三棱镜倾斜角度的三棱镜调节螺丝。
[n0007] 进一步的，所述对中标志调整工作台包括转动台、X轴运动轨道、Y轴运动台和对中标志盒。
[n0008] 进一步的，所述转动台包括轴承座、推力球轴承、连接空管和转动盘，所述轴承座侧壁上设置有定位螺栓。
[n0009] 进一步的，所述X轴运动轨道包括支架、螺纹杆，所述支架固定在所述转动盘上，所述螺纹杆一端设置有调节杆。
[n0010] 进一步的，所述Y轴运动台包括Y轴运动轨道、上平台和下平台，所述下平台通过连接杆固定连接在所述螺纹杆上。
[n0011] 进一步的，所述对中标志盒设置在所述上平台顶部，所述对中标志盒中设置有对中标志。
[n0012] 进一步的，所述基座架包括上下两个台面。
[n0013] 综上所述，本实用新型的有益效果包括：
[n0014] 一、通过三棱镜对光路进行了调整，在保证了校正光路距离的要求下，缩短了基座光学对中器目镜与对中标志之间的调整距离，从而降低了校正难度，减少了校正人员数量且进一步提高工作效率。
[n0015] 二、通过设置转动台，矫正了图像透过透镜形成倒像，使对中标志实际运动方向与成像运动方向相反的问题。
[n0016] 三、通过设置X轴运动轨道、Y轴运动台可以准确地移动对中标志的位置，解决了对中标志调整位置时容易调整过度或调整距离不足的情况，提高工作效率。
[n0017] 为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[n0018] 图1为本实用新型实施例一中的结构示意图；
[n0019] 图2为本实用新型实施例一中的对中标志的示意图；
[n0020] 图中，主体箱1、光路单元2、对中标志调整工作台3、基座架4、三棱镜盒21、三棱镜22、三棱镜调节螺丝23、转动台31、X轴运动轨道32、Y轴运动台33、对中标志盒34、轴承座311、推力球轴承312、连接空管313、转动盘314、定位螺栓315、支架321、螺纹杆322、调节杆323、Y轴运动轨道331、上平台332、下平台333、对中标志341、光孔5。
[n0021] 下面结合附图对本实用新型做进一步的解释说明，但不限制本实用新型的保护范围。
[n0022] 在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
[n0023] 实施例一：参照图1-2所示，本实用新型提供的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，包括主体箱1，所述主体箱1内设置有光路单元2，所述主体箱1上设置有对中标志调整工作台3和基座架4。
[n0024] 进一步的，所述光路单元2为固定设置在主体箱1底部的一组三棱镜盒21，所述三棱镜盒21分别倾斜设置有三棱镜22，所述三棱镜盒21上设置有用于调节所述三棱镜22倾斜角度的三棱镜调节螺丝23。
[n0025] 进一步的，所述对中标志调整工作台3包括转动台31、X轴运动轨道32、Y轴运动台33和对中标志盒34。
[n0026] 进一步的，所述转动台31包括轴承座311、推力球轴承312、连接空管313和转动盘314，所述轴承座311侧壁上设置有定位螺栓315。
[n0027] 进一步的，所述X轴运动轨道32包括支架321、螺纹杆322，所述支架321固定在所述转动盘314上，所述螺纹杆322一端设置有调节杆323。
[n0028] 进一步的，所述Y轴运动台33包括Y轴运动轨道331、上平台332和下平台333，所述下平台333通过连接杆固定连接在所述螺纹杆322上。
[n0029] 进一步的，Y轴运动轨道331结构与X轴运动轨道32结构相同。
[n0030] 进一步的，所述对中标志盒34设置在所述上平台332顶部，所述对中标志盒34中设置有对中标志341。
[n0031] 进一步的，所述基座架4包括上下两个台面。
[n0032] 进一步的，基座架4包括上下两个台面，其下台面固定在主体箱1上，主体箱1、对中标志调整工作台3和基座架4均设置有透光孔。
[n0033] 具体使用时，将需要校正的光学对中器使用中心螺旋安装于基座架上台面上并使用基座上的三个角螺旋调平基座，调整目镜焦距使校正人员能够清晰地看到光学对中器内部的十字丝；
[n0034] 调整基座光学对中器的物镜使校正人员可以清晰的观测到对中标志；
[n0035] 通过调节杆323使得Y轴运动台33整体沿着X轴运动轨道32运动，同时调整Y轴运动台33使得对中标志盒34沿着Y轴方向运动，进而使对中标志341十字中心与基座光学对中器目镜内的十字丝相互重合，如遇到实际调整方向与目镜内观测到的运动方向相反则可松动定位螺栓315，转动转动台31直至调整方向与目镜观测方向一致。
[n0036] 将基座上的光学对中器旋转180°，观察光学对中器的十字丝与对中标志341的十字中心的相对位置，使用改针调整光学对中器上的调整螺丝，调整光学对中器的十字丝位置为观察到的偏离量的一半；调整转动台31、X轴运动轨道32、Y轴运动台33，使对对中标志341十字中心与光学对中器十字丝再次重合。如此反复，直至光学对中器旋转180°，对中标志341的十字中心与光学对中器十字丝的偏离量的一半小于1mm，上述操作重复3次取平均值。
[n0037] 对中标志341安装于对中标志盒内部，且对中标志方向向下。
[n0038] 综上所述，本实用新型的有益效果包括：
[n0039] 一、通过三棱镜对光路进行了调整，在保证了校正光路距离的要求下，缩短了基座光学对中器目镜与对中标志之间的调整距离，从而降低了校正难度，减少了校正人员数量且进一步提高工作效率。
[n0040] 二、通过设置转动台，矫正了图像透过透镜形成倒像，使对中标志实际运动方向与成像运动方向相反的问题。
[n0041] 三、通过设置X轴运动轨道、Y轴运动台可以准确地移动对中标志的位置，解决了对中标志调整位置时容易调整过度或调整距离不足的情况，提高工作效率。
[n0042] 对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内，不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

权利要求:
Claims (8)
[0001] 1.一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，包括主体箱(1)，其特征在于，所述主体箱(1)内设置有光路单元(2)，所述主体箱(1)上设置有对中标志调整工作台(3)和基座架(4)。
[0002] 2.根据权利要求1所述的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，其特征在于，所述光路单元(2)为固定设置在主体箱(1)底部的一组三棱镜盒(21)，所述三棱镜盒(21)分别倾斜设置有三棱镜(22)，所述三棱镜盒(21)上设置有用于调节所述三棱镜(22)倾斜角度的三棱镜调节螺丝(23)。
[0003] 3.根据权利要求1所述的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，其特征在于，所述对中标志调整工作台(3)包括转动台(31)、X轴运动轨道(32)、Y轴运动台(33)和对中标志盒(34)。
[0004] 4.根据权利要求3所述的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，其特征在于，所述转动台(31)包括轴承座(311)、推力球轴承(312)、连接空管(313)和转动盘(314)，所述轴承座(311)侧壁上设置有定位螺栓(315)。
[0005] 5.根据权利要求4所述的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，其特征在于，所述X轴运动轨道(32)包括支架(321)、螺纹杆(322)，所述支架(321)固定在所述转动盘(314)上，所述螺纹杆(322)一端设置有调节杆(323)。
[0006] 6.根据权利要求5所述的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，其特征在于，所述Y轴运动台(33)包括Y轴运动轨道(331)、上平台(332)和下平台(333)，所述下平台(333)通过连接杆固定连接在所述螺纹杆(322)上。
[0007] 7.根据权利要求6所述的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，其特征在于，所述对中标志盒(34)设置在所述上平台(332)顶部，所述对中标志盒(34)中设置有对中标志(341)。
[0008] 8.根据权利要求1所述的一种用于调节基座光学对中器误差的校正装置，其特征在于，所述基座架(4)包括上下两个台面。

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同族专利:

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公开号 | 公开日

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引用文献:

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公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题

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法律状态:
2021-10-01| GR01| Patent grant|

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2021-10-01| GR01| Patent grant|

优先权:

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申请号 | 申请日 | 专利标题

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