专利摘要:
本实用新型涉及一种中心距卡尺校准用组合标准块,包括中心距标准样块和中心距标准台阶样块,中心距标准样块和中心距标准台阶样块两者间隔设置。中心距标准样块为一长方体快状的基准块,所述基准块上沿着基准块的长度方向均匀开设有多列通孔,每列通孔由多个直径从小到大排列的圆孔构成,其中多个圆孔沿着基准块的宽度方向依次间隔布置。本实用新型实现了在一套组合标准块上满足不同型号,不同测量范围,不同尺寸测头的中心距卡尺的溯源,成本低,效率高,使用方便。
公开号:CN214333567U
申请号:CN202120718675.5U
申请日:2021-04-09
公开日:2021-10-01
发明作者:万夙鸣;董良海;毛晓峰;潘建栋
申请人:Wuxi Metrology Testing Institute;
IPC主号:G01B3-18
专利说明:
[n0001] 本实用新型属于计量技术领域,特别涉及一种中心距卡尺校准用组合标准块。
[n0002] 中心距卡尺是利用游标、指示表和数显形式对两圆锥(或圆柱)测头中心线相对移动的距离进行读数的计量器具。由于它的测头与传统的通用卡尺不同,使用传统的量块来对它校准存在一定的弊端,无法有效的解决中心距卡尺的溯源问题。
[n0003] 本实用新型的目的在于克服上述不足之处,从而提供一套使用简便,校准准确,工作效率高的标准块,解决了中心距卡尺的溯源问题。按照本实用新型的技术方案,
[n0004] 一种中心距卡尺校准用组合标准块,其特征是:包括中心距标准样块和中心距标准台阶样块,所述中心距标准样块和中心距标准台阶样块两者间隔设置。
[n0005] 所述中心距标准样块为一长方体快状的基准块,所述基准块上沿着基准块的长度方向均匀开设有多列通孔,每列通孔由多个直径从小到大排列的圆孔构成,其中多个圆孔沿着基准块的宽度方向依次间隔布置。
[n0006] 在用中心距卡尺校准用组合标准块校准中心距卡尺时,如果中心距卡尺的测头是固定的,那么直接用中心距标准样块进行校准;如果中心距卡尺的测头是可伸缩的,那么在用中心距标准样块进行校准后,还要将可伸缩测头伸至最大延伸长度处,再用中心距标准台阶样块进行校准一个值。
[n0007] 所述中心距标准台阶样块包括多个高度递增的块体依次连接构成的具有多个台阶面的台阶本体,所述台阶本体沿着各块体的高度方向开设有贯通的竖直孔,竖直孔由多个校准孔构成,其中校准孔沿着各块体的宽度方向排列。
[n0008] 进一步地,所述中心距标准台阶样块,其起始台阶高度为(10±1)mm,之后的台阶高度依次增加10mm。
[n0009] 进一步地,中心距标准样块和中心距标准台阶样块均采用不锈钢材质。
[n0010] 本实用新型有益效果:
[n0011] 本实用新型实现了在一套标准块上满足不同型号,不同测量范围,不同尺寸测头的中心距卡尺的溯源,成本低,效率高,使用方便,弥补了国内中心距卡尺标准器的空白,为中心距卡尺溯源的统一提供了标准器,具有重要的推广应用价值。
[n0012] 图1是本实用新型中心距标准样块的俯视图。
[n0013] 图2是本实用新型中心距标准样块的正视图。
[n0014] 图3是本实用新型的中心距标准台阶样块的俯视图。
[n0015] 图4是本实用新型的中心距标准台阶样块的俯视图。
[n0016] 图5、图6是本实用新型的圆柱测头中心距卡尺测量示意图。
[n0017] 图7是本实用新型的圆锥测头中心距卡尺测量示意图。
[n0018] 下面结合具体实施例和附图对本实用新型作进一步说明。
[n0019] 如图1-4所示:一种中心距卡尺校准用组合标准块,其包括中心距标准样块10和中心距标准台阶样块20,所述中心距标准样块10和中心距标准台阶样块20两者间隔设置。
[n0020] 所述中心距标准样块为一长方体快状的基准块11,所述基准块11上沿着基准块的长度方向均匀开设有多列通孔,每列通孔由多个直径从小到大排列的圆孔12构成,其中多个圆孔沿着基准块的宽度方向依次间隔布置。
[n0021] 所述中心距标准台阶样块20包括多个高度递增的块体21依次连接构成的具有多个台阶面24的台阶本体22,所述台阶本体22沿着各块体的高度方向开设有贯通的竖直孔23,竖直孔23由多个校准孔构成,其中校准孔沿着各块体的宽度方向排列。其中M每个块体校准孔的中心线;
[n0022] (针对中心距卡尺可伸缩的测头尺寸大小不同,设计不同直径的竖直孔)
[n0023] 对于长度为300mm的中心距标准样块10,高度不小于25mm;对于长度增加的中心距标准样块10可适当的增加高度,保证其不易变形。
[n0024] 所述中心距标准台阶样块20,其起始台阶高度为(10±1)mm,之后的台阶高度依次增加10mm。
[n0025] 中心距标准样块10和中心距标准台阶样块20均采用不锈钢材质。
[n0026] 使用本实用新型时,将中心距卡尺的两测量头测量面(线)与中心距标准样块(以下简称“标准样块”)上两孔壁相接触,根据测头形式的不同,按下述方法在全量程上均匀分布3~6点进行读数。
[n0027] (一)圆柱测头的示值读取(图5、图6)。使中心距卡尺两圆柱测头测量面的最外侧分别与标准样块上两孔的最远侧接触,记录此时的读数为l1,再使两圆柱测头测量面的最内侧与标准样块上两孔的最近侧接触,记下此时的读数为l2,根据中心距卡尺设定的初始值不同,进行数据处理。
[n0028] 当指示装置初始值为(或可设为)中心距卡尺测量范围标定的初始值时,其中心距卡尺测得的孔距为:
[n0029]
[n0030] 式中:ls——中心距卡尺测得的孔距;
[n0031] l1——中心距卡尺的第一次读数;
[n0032] l2——中心距卡尺的第二次读数。
[n0033] 当指示装置为(或可设为)零时,其中心距卡尺测得的孔距为:
[n0034]
[n0035] 式中:ls——中心距卡尺测得的孔距;
[n0036] l1——中心距卡尺的第一次读数;
[n0037] l2——中心距卡尺的第二次读数;
[n0038] m——中心距卡尺基值的实际值。
[n0039] b)圆锥测头的示值读取(图7)。使中心距卡尺两圆锥测头与标准样块上两孔边缘均匀接触,并使尺身下边与标准样块上平面处于平行状态(对于可伸缩圆锥测头,应先将可伸缩圆锥测头调整至与固定圆锥测头伸出长度相等),记录此时的读数为l。根据中心距卡尺设定的初始值不同,进行数据处理。
[n0040] 当指示装置初始值为(或可设为)中心距卡尺测量范围标定的初始值时,其中心距卡尺测得的孔距为:
[n0041] ls=l-----------------------------(3)
[n0042] ls——中心距卡尺测得的孔距;
[n0043] l——中心距卡尺读数;
[n0044] 当指示装置为(或可设为)零时,其孔距为:
[n0045] ls=l+m-----------------------------(4)
[n0046] 式中:ls——中心距卡尺测得的孔距;
[n0047] l——中心距卡尺读数;
[n0048] m——中心距卡尺基值的实际值;
[n0049] 对于可伸缩测头的中心距卡尺,除了上述校准外,还应将可伸缩测头伸至最大延伸长度处,按照上述方法,用中心距标准台阶样块对其任一受检点进行校准。
[n0050] 最后所应说明的是,以上具体实施方式仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照实例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围,其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
权利要求:
Claims (3)
[0001] 1.一种中心距卡尺校准用组合标准块,其特征是:
包括中心距标准样块(10)和中心距标准台阶样块(20);所述中心距标准样块(10)和中心距标准台阶样块(20)两者间隔设置;
所述中心距标准样块为一长方体快状的基准块(11),所述基准块(11)上沿着基准块的长度方向均匀开设有多列通孔,每列通孔由多个直径从小到大排列的圆孔(12)构成,其中多个圆孔沿着基准块的宽度方向依次间隔布置;
所述中心距标准台阶样块(20)包括多个高度递增的块体(21)依次连接构成的具有多个台阶面(24)的台阶本体(22),所述台阶本体(22)沿着各块体的高度方向开设有贯通的竖直孔(23),竖直孔(23)由多个校准孔构成,其中校准孔沿着各块体的宽度方向排列。
[0002] 2.如权利要求1所述的一种中心距卡尺校准用组合标准块,其特征是:
所述中心距标准台阶样块(20),其起始台阶高度为(10±1)mm,之后的台阶高度依次增加10mm。
[0003] 3.如权利要求1所述的一种中心距卡尺校准用组合标准块,其特征是:
中心距标准样块(10)和中心距标准台阶样块(20)均采用不锈钢材质。
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同族专利:
公开号 | 公开日
引用文献:
公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
法律状态:
2021-10-01| GR01| Patent grant|
2021-10-01| GR01| Patent grant|
优先权:
申请号 | 申请日 | 专利标题
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